莞城ABS塑料回收多少钱一吨

　　1960年，出现邻重氮萘醌-酚醛树脂紫外正性光刻胶 。

　　1968年美国IBM公司的Haller等人发明聚甲基丙烯酸甲酯电子束光刻胶。

　　1973年由Bell实验室和Bowden发明聚烯砜类电子束光刻胶。

　　1976年，美国麻省理工学院的H. Smith提出X射线曝光技术。

　　1989年，日本科学家Kinoshita提出极紫外光刻技术（EUVL）。

　　1990年后，开始出现248 nm化学增幅型光刻胶。

　　1992年，IBM使用甲基丙烯酸异丁酯的聚合物作为化学增幅的193 nm光刻胶材料。同年Kaimoto等也发现了非芳香性的抗蚀刻剂，而且在193 nm有较好的透光性 。

　　聚丁二烯-b-聚乙烯基吡啶PIB-b-PtBuMA

　　Poly(isobutylene-b-t-butyl methacrylate)

　　聚异丁烯-b-聚甲基丙烯酸丁酯

　　PIB-b-PMMA

　　Poly(isobutylene-b-methyl methacrylate)

　　聚异丁烯-b-聚甲基丙烯酸

　　Au24（SCH2Ph-tBu）20金纳米团簇Au44(SCH3)28手性金纳米团簇

　　刀豆求蛋白修饰金纳米团簇

　　半胱氨酸修饰金纳米团簇Au25Cys18

　　DHLA-AuNCs二氢硫辛酸保护金纳米团簇

　　巯基琥珀酸保护金纳米团簇

　　聚(N-乙烯基咪唑)配体金纳米团簇

　　树枝状聚合物PAMAM修饰金纳米团簇

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　　反应率:n (ECH) ∶n (N) =0.51;反应温度:20 ℃;反应时间:60 min反应率:n (Cr3+) ∶n (N) =0.20;反应温度:20 ℃;反应时间:60 min 从图9中可以看出, 饱和吸附量随着Cr3+的量而增加, 这可能是因为当Cr3+的用量增加, Si O2表面的聚合物印迹孔穴增加, 所以IIP-PEI/Si O2的饱和吸附量增加。当n (Cr3+) ∶n (N) =0.2时, 出现了一个转折点 , 在这个转 折点之后 , IIP-PEI/Si O2的吸附量增加。这表明在n (Cr3+) ∶n (N) =0.33的条件下, PEI/Si O2上的N原子都与Cr3+发生了螯合, 在印迹过程中形成了大量的孔穴, 因此, 当Cr3+离子继续增加时, 孔穴量增加。Cr3+和N原子的理 论摩尔比 为0.17, 当PEI/Si O2的N原子与与Cr3+配位 (PEI与Cr3+有六个配体) , 0.2到0.17的偏差归因于当平衡状态下螯合时, 溶液中仍然存在Cr3+离子。

　　Poly(styrene-b-2-hydroxyethyl methacrylate)聚苯乙烯-b-聚甲基丙烯酸羟乙酯

　　PS-b-PHPMA

　　Poly(styrene-b-2-hydroxypropylmethacrylate)

　　聚苯乙烯-b-聚甲基丙烯酸羟丙酯

　　PS-b-P4HOS

　　Poly(styrene-b-4-hydroxyl styrene)