普宁LDPE回收上门收购

　　光刻胶（Photoresist）又称光致抗蚀剂，是指通过紫外光、电子束、离子束、X射线等的照射或辐射，其溶解度发生变化的耐蚀剂刻薄膜材料。由感光树脂、增感剂和溶剂3种主要成分组成的对光敏感的混合液体。在光刻工艺过程中，用作抗腐蚀涂层材料。半导体材料在表面加工时，若采用适当的有选择性的光刻胶，可在表面上得到所需的图像。光刻胶按其形成的图像分类有正性、负性两大类。在光刻胶工艺过程中，涂层曝光、显影后，曝光部分被溶解，未曝光部分留下来，该涂层材料为正性光刻胶。如果曝光部分被保留下来，而未曝光被溶解，该涂层材料为负性光刻胶。按曝光光源和辐射源的不同，又分为紫外光刻胶（包括紫外正、负性光刻胶）、深紫外光刻胶、X-射线胶、电子束胶、离子束胶等。光刻胶主要应用于显示面板、集成电路和半导体分立器件等细微图形加工作业 。光刻胶生产技术较为复杂，品种规格较多，在电子工业集成电路的制造中，对所使用光刻胶有严格的要求。

　　聚乙交酯-b-聚乙二醇-聚乙交酯PS-b-PDLLA

　　Poly(styrene)-b-poly(D,L-lactide)

　　聚苯乙烯-b-DL型聚乳酸

　　PS-b-PLLA

　　Poly(styrene)-b-poly(L-lactide)

　　聚苯乙烯-b-L型聚乳酸

　　mPEG-PEI

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　　聚乳酸-聚烯丙基丙交酯-b-聚乙二醇-叶酸PCLA-mPEG

　　Poly(caprolactone-co-D,L-lactide-)-b-poly(ethyleneglycol)  CL:LA  50:50

　　聚乳酸-聚已内酯-b-聚乙二醇

　　PCLA-PEG-NH2

　　Poly(caprolactone-co-D,L-lactide-)-b-poly(ethyleneglycol)-Amine  CL:LA  50:50

　　IIP-PEI/Si O2对Cr3+的选择吸附系数与竞争离子B相比可以通过以下方程式 (4) 得到k值可以通 过估计IIP-PEI/Si O2对Cr3+的选择吸附性。相对选择吸附系数 (k') 可以通过式 (5) 计算, k' 表明了印迹吸附剂对模板离子的吸附亲和力及印迹材料的选择吸附性相对于非印 迹吸附剂的提高 程度。 2.5 IIP-PEI/Si O2对 Cr3+的动力吸附实验及解吸实验