寮步PE破碎料大量收购

　　1960年，出现邻重氮萘醌-酚醛树脂紫外正性光刻胶 。

　　1968年美国IBM公司的Haller等人发明聚甲基丙烯酸甲酯电子束光刻胶。

　　1973年由Bell实验室和Bowden发明聚烯砜类电子束光刻胶。

　　1976年，美国麻省理工学院的H. Smith提出X射线曝光技术。

　　1989年，日本科学家Kinoshita提出极紫外光刻技术（EUVL）。

　　1990年后，开始出现248 nm化学增幅型光刻胶。

　　1992年，IBM使用甲基丙烯酸异丁酯的聚合物作为化学增幅的193 nm光刻胶材料。同年Kaimoto等也发现了非芳香性的抗蚀刻剂，而且在193 nm有较好的透光性 。

　　聚二甲基硅氧烷-b-聚氧乙烯PDMS-b-PMAA

　　Poly(dimethylsiloxane-b-methacrylic acid)

　　聚二甲基硅氧烷-b-聚甲基丙烯酸

　　P2VP-b-PEO

　　Poly(2-vinyl pyridine-b-ethylene oxide)

　　聚乙烯基吡啶-b-聚氧乙烯

　　聚乳酸-聚已内酯-b-聚乙二醇-马来酰亚胺

　　PLCL-PEG-NHS

　　Poly(lactide-co-caprolactone)-b-poly(ethyleneglycol)-NHS   LA:CL 50:50

　　聚乳酸-聚已内酯-b-聚乙二醇-活化酯PLCL-PEG-COOH

　　Poly(lactide-co-caprolactone)-b-poly(ethyleneglycol)-Acid   LA:CL 50:50

　　寮步PE破碎料大量收购

　　其中，cpt-ss-m接枝率的计算方法如下:收集纯化过程中的乙腈溶液，通过hplc测定其中cpt-ss-m的含量，则接枝率为(起始投料cpt-ss-m的量-测得cpt-ss-m的量差值)×100％/起始投料cpt-ss-m的量。hplc测定条件为:

　　仪器:agilent1260,agilent,usa；

　　谱柱:c18，4.6mm×150mm,5μm,agilent,usa；

　　PMAA-PCL-SHThiol end functionalized Poly(methacrylicacid-b-e-caprolactone)

　　PEO-PLA-NH2

　　Amino Terminated Poly(ethyleneoxide-b-lactide)

　　PMMA 的发展距今已有一百多年历史，1877 年 MMA 的聚合性始被发现，但直到 1933 年德国化学家 Otto Rohm 才将 PMMA 商品化，并以 Plexiglas 为注册商标行销全欧洲。后来随着其他厂商的进入，PMMA 也出现了许多商品名，常见的名称有 Lucite、Perspex、Optix(Plaskolite)和 Altuglas