东区POM塑胶废品回收公司

　　1960年，出现邻重氮萘醌-酚醛树脂紫外正性光刻胶 。

　　1968年美国IBM公司的Haller等人发明聚甲基丙烯酸甲酯电子束光刻胶。

　　1973年由Bell实验室和Bowden发明聚烯砜类电子束光刻胶。

　　1976年，美国麻省理工学院的H. Smith提出X射线曝光技术。

　　1989年，日本科学家Kinoshita提出极紫外光刻技术（EUVL）。

　　1990年后，开始出现248 nm化学增幅型光刻胶。

　　1992年，IBM使用甲基丙烯酸异丁酯的聚合物作为化学增幅的193 nm光刻胶材料。同年Kaimoto等也发现了非芳香性的抗蚀刻剂，而且在193 nm有较好的透光性 。

　　Poly(dimethylsiloxane-b-lactide)

　　PCL-PLA

　　Poly(ε-caprolactone-b-lactide)

　　PtBuA-PS-PtBuA

　　Poly(t-butyl acrylate)-b-Polystyrene-b-Poly(t-butylacrylate)PMMA-PMAA-PMMA

　　聚甲基丙烯酸在纺织工业中用作纤维纺织过程中的保护胶著剂；用作低压锅炉阻垢剂，其阻垢性能与聚丙烯酸相似，耐温性能优于聚丙烯酸。由于其原料价格较贵，故其产品价格比聚丙烯酸高，除非在要求的情况下，一般较少采用聚甲基丙烯酸作循环冷却水的阻垢剂。其应用举例如下:一种超高温循环水阻垢剂及其制备方法，按照重量份数配比称取多氨多醚基亚甲基膦酸、环己醇六磷酸酯、氯乙酸、双酚A溶液、蒸馏水、PBTCA、抗氧剂、BTA、聚丙烯酸、聚甲基丙烯酸和羟胺类阻聚剂，用于钢厂中的高炉、联铸、感应圈等高温循环水设备；高温不易分解，稳定性强，在100℃范围内随温度升高阻垢能力升高，阻垢效果好；降低了循环水的排污量，大大节省了循环水用量，阻垢率达98-100%。

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　　荧光光谱法对于具有荧光性质的模板分子,荧光光谱法是选择功能单体的比较好的方法。荧光供体分子(模板分子)与荧光猝灭剂分子(功能单体)之间借助分子间力,彼此结合形成具有一定结构的不发荧光的基态复合物,而导致荧光强度减弱。即静态荧光猝灭现象。 (4)计算机模拟计算 随着计算机和量子化理论的发展,计算机模拟技术已经应用到分子印迹体系中。这种方法可以大大减少摸索实验的次数,也可以减少不必要的品浪费。计算机模拟计算常用半经验计算方法,大致过程为,步,用软件优化各种可能的模板分子、功能单体及其复合物的构象,选出小能量构象。第2步,功能单体与模板分子的相互作用能利用下式计算:△E=E(模板分子和功能单体的复合物)-E(模板分子)-E (功能单体)。△E越大,说明模板分子与功能单体的作用越易形成氢键,且形成的氢键越牢固。

　　Poly(methyl methacrylate-b-methacrylicacid)聚甲基丙烯酸甲酯-聚甲基丙烯酸PtBMA-b-PEO

　　Poly(t-butyl methacrylate-b-ethylene oxide)

　　聚甲基丙烯酸叔丁酯-b-聚氧乙烯

　　PMMA-b-PAA

　　Poly(methyl methacrylate-b-Acrylic Acid)