南城PA66塑胶高价上门收购

　　1960年，出现邻重氮萘醌-酚醛树脂紫外正性光刻胶 。

　　1968年美国IBM公司的Haller等人发明聚甲基丙烯酸甲酯电子束光刻胶。

　　1973年由Bell实验室和Bowden发明聚烯砜类电子束光刻胶。

　　1976年，美国麻省理工学院的H. Smith提出X射线曝光技术。

　　1989年，日本科学家Kinoshita提出极紫外光刻技术（EUVL）。

　　1990年后，开始出现248 nm化学增幅型光刻胶。

　　1992年，IBM使用甲基丙烯酸异丁酯的聚合物作为化学增幅的193 nm光刻胶材料。同年Kaimoto等也发现了非芳香性的抗蚀刻剂，而且在193 nm有较好的透光性 。

　　实施例12-((2-羟乙基)二硫烷基)乙基甲基丙烯酸酯(hsema)的制备将2,2'-二硫二乙醇(1.54g，10mmol)和三乙胺(1.52g，15mmol)溶解于50ml无水四氢呋喃中，冰水浴条件下冷却至0℃。将甲基丙烯酰氯(1.05,10mmol)溶于25ml无水四氢呋喃，剧烈搅拌下逐滴缓慢加入上述反应液中。室温下反应过夜，过滤除不溶性盐；然后，旋转蒸发以除去溶剂。将得到的粗产品用50ml乙酸乙酯稀释，并用水、饱和氯化钠溶液分别洗涤三次，以除去未反应的原料中杂质。分离收集有机相，用无水硫酸镁干燥。旋转蒸发浓缩溶液，然后通过二氧化硅柱分离纯化，流动相为乙酸乙酯/石油醚(1/3，v/v)，得到纯的2-((2-羟乙基)二硫烷基)乙基甲基丙烯酸酯(hsema)。1h-nmr(cdcl3，δ，ppm，tms):6.14(s，1h)，5.60(s，1h)，4.43(t，2h)，3.90(t，2h)，2.98(t，2h)，2.89(t,2h)，1.95(s，3h)。

　　其中，cpt-ss-m接枝率的计算方法如下:收集纯化过程中的乙腈溶液，通过hplc测定其中cpt-ss-m的含量，则接枝率为(起始投料cpt-ss-m的量-测得cpt-ss-m的量差值)×100％/起始投料cpt-ss-m的量。hplc测定条件为:

　　仪器:agilent1260,agilent,usa；

　　谱柱:c18，4.6mm×150mm,5μm,agilent,usa；

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　　聚(N-乙烯基-2-吡咯烷酮)修饰金纳米团簇PVP-AuNCs胰岛素修饰红荧光金纳米团簇

　　超高荧光量子产率近红外金纳米团簇

　　AIE效应的金纳米团簇

　　聚集导发光效应金纳米团簇

　　不同金数量的纳米金团簇

　　Au144(SR)60金纳米团簇

　　环糊精修饰金纳米团簇（单金属）

　　卟啉修饰金纳米团簇

　　聚乳酸-聚已内酯-b-聚乙二醇-氨基PCLA-PEG-MAL

　　Poly(caprolactone-co-D,L-lactide-)-b-poly(ethyleneglycol)-MAL  CL:LA  50:50

　　聚乳酸-聚已内酯-b-聚乙二醇-马来酰亚胺

　　PCLA-PEG-COOH

　　Poly(caprolactone-co-D,L-lactide-)-b-poly(ethyleneglycol)-Acid  CL:LA  50:50