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　　20世纪90年代中期，美国明尼苏达大学纳米结构实验室提出了一种叫做“纳米压印成像”（nanoimprint lithography）的新技术。

　　1996年，欧洲主要成立了4个极紫外光刻相关研究项目，约110个研究单位参与，其中比较重要的项目为MEDEA和MORE MOORE。

　　1997年，Intel公司成立了包括AMD、Motorola、Micron、Infineon和IBM的EUV LLC，并与由LBNL、LLNL和SNL组成的国家技术实验室（VNL）签订了极紫外光刻联合研发协议（CRADA）。

　　1998年，日本开始极紫外光刻研究工作，并于2002年6月成立极紫外光刻系统研究协会（EUVA） 。

　　1962年，中国北京化工厂接受中国科学院半导体研究所的委托，着手研究光刻胶，以吡啶为原料，采用热法工艺，制成聚乙烯醇肉桂酸酯胶。

　　1967年，中国第一个KPR型负性光刻胶投产。

　　1970年，103B型、106型两种负胶投产，环化橡胶系负胶BN-302、BN-303也相继开发成功。

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　　Altuglas BS 520 丙烯酸 ((佰塑公司-总代理商)pmma系列 ) 高分子量; 共聚物 混料; 母料; 涂层应用; 粘合剂

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　　在本研究中, 我们在硅胶颗粒表面采用的表面印迹技术改性:首先是功能大分子聚乙烯亚胺 (PEI) 通过耦合接枝法接枝到硅胶颗粒表面;其次, 采用Cr3+作为模板分子, 环氧氯丙烷作为交联剂, 合成出离子 印迹聚合 物 (IIP-PEI/Si O2) 。采用静态及动态法研究了IIP-PEI/Si O2对Cr3+的吸附性能。2.1 材料及仪器 硅胶 (120~160目, 粒径约为125 um, 孔径:6 nm, 孔体积:1.0 m L/g, 表面积:350 m2/g) 从大洋化学有限公司购买。PEI (Mw=1×104~2×104) 从强龙化学有限公司购买。

　　以下通过试验例明本发明的有益效果。试验例1物释放实验

　　通过透析法用于研究纳米凝胶的物释放行为。简言之，将制备好的p(cpt-maa)前纳米凝胶(根据实施例6制备)分别分散，并超声助溶到不同ph值(ph＝7.4，ph＝6.4，ph＝5.0)的1ml磷酸盐缓冲溶液中。然后转移到预先浸润的透析袋中(mwco＝14000)。之后将透析袋浸入到40ml含有不同浓度的谷胱甘肽的的pbs溶液(0，2μm，2mm和10mm)中，释放实验条件为37℃，100转/分钟。在预定的时间点，首先收集5ml释放介质，弃去其他释放介质，然后加入预热的新鲜释放介质。使用hplc测定释放介质中cpt的浓度，每个实验重复三次。释放实验结果如图6所示。