TRITOP - 光学三维坐标测量系统

名称:TRITOP - 光学三维坐标测量系统

供应商:道姆光学科技(上海)有限公司

价格:面议

最小起订量:1//

地址:上海市浦东新区科苑路88号德国中心1号楼318室

手机:13935949560

联系人:刘文慧 (请说在中科商务网上看到)

产品编号:102604983

更新时间:2021-01-27

发布者IP:180.173.66.192

详细说明

  便携式 TRITOP CMM 摄影测量系统可以快速准确地测量物体的三维坐标。相对传统接触式三维坐标测量仪而言,现在可以用 TRITOP CMM 系统更轻松地展开测量工作。不需要任何复杂、沉重和精密维护的硬件,让测量仪轻松地趋近物体就行!

  像接触式坐标测量仪一样,TRITOP CMM 能记录任何特征空间的坐标及其方向:

  ·          曲面点和截面

  ·          基元

  ·          孔、冲孔和边

  ·          直径、长度、角度 ......

  确定三维坐标以后,测量系统将会把测量结果转换到部件坐标系统中:

  ·          RPS

  ·          量具对齐

  ·          最佳拟合 ......

  用于不同任务的测量数据和对齐数据:

  ·          CAD 比较

  ·          验证形状和位置公差

  ·          验证各种样图、文档或表格的规格

  ·          首检

  把实际测量数据与 CAD 数据( IGES、VDA、STEP、Catia、ProE、UG ……)进行比较,生成用户熟悉的格式的测试报告:

  ·          假色图示

  ·          标注显示个别偏差点

  ·          截面、角度和距离

  ·          直径和平面度

  ·          表格和列表

  TRITOP 技术优点

  ·          整套三维测量仪的组件极少(两个仪器箱共重 23 公斤)

  ·          测量过程中无须接触被测物体

  ·          对于大型物体也能确保高精度测量

  ·          无磨损,也不会降低精度

  ·          易于操作

  ·          不受环境条件影响(气候环境试验箱、露天等)