产品说明、技术参数及配置

　　EDX 4500H X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。

　　该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行精确分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。

　　另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。

　　性能特点

　　高效超薄窗X光管，指标达到国际先进水平

　　最新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好

　　SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比

　　低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好

　　智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围

　　自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性

　　高信噪比的电子线路单元

　　针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐

　　解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度

　　多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制

　　内置高清晰摄像头

　　液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然

　　技术参数

　　产品型号:EDX 4500H

　　产品名称:X荧光光谱仪

　　测量元素范围:从钠（Na）到铀（U）

　　元素含量分析范围: ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）

　　同时分析元素:一次性可测几十种元素

　　测量时间:30秒-200秒

　　探测器能量分辨率为:145±5eV

　　管压:5KV-50KV

　　管流:50μA-1000μA

　　测量对象状态:粉末、固体、液体

　　输入电压:AC 110V/220V

　　环境温度:15℃-30℃

　　环境湿度:35%-70%

　　样品腔体积:320mm×100mm

　　外形尺寸:660mm×510mm×350mm

　　重量:65Kg

　　标准配置

　　高效超薄窗X光管

　　SDD硅漂移探测器

　　数字多道技术

　　光路增强系统

　　高信噪比电子线路单元

　　内置高清晰摄像头

　　自动切换型准直器和滤光片

　　自动稳谱装置

　　三重安全保护模式

　　可靠的整体钢架结构

　　90mm×70mm的状态显示液晶屏

　　真空泵

　　应用领域

　　合金检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素）