详细说明
膜厚检测仪器,膜厚分析仪器,膜厚测试仪规格介绍
X荧光光谱仪主要针对大件部件的镀层厚度和含量的无损、快速测定，它采用上照式，通过三维的移动和激光定位，实现对尺寸范围较大部件进行镀层厚度和含量的点测量
应用领域:黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测；金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；贵金属加工和首饰加工行业；银行、首饰销售和检测机构；电镀行业。
CMI900收二手膜厚仪、旧膜厚测试仪特点
1、激光非接触测量，不损伤工件。
2、高数据采集频率，保证高效率测量。
3、激光测头精度