X-Strata980X荧光测厚仪性能特点  

　　满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求  

　　高精度移动平台可精确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm  

　　采用高度定位激光，可自动定位测试高度  

　　定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐  

　　鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点  

　　高分辨率探头使分析结果更加精准  

　　良好的射线屏蔽作用  

　　测试口高度敏感性传感器保护  

　　X-Strata980X荧光测厚仪应用领域  

　　黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.  

　　金属镀层的厚度测量,电镀液和镀层含量的测定。  

　　主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。  

　　X-Strata980X荧光测厚仪  

　　·电制冷固态探测器确保极佳的信/躁比，从而降低检测下限。探测器分辨率极高，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。超大探测器灵敏窗口大幅提高了计数率——大多数的分析能在数秒或数分种内完成。灵活组合运用五个初级滤波器，使X光管激发效率达到较佳，得到最优的应用效果。仪器测量直径最小可达到150微米。可供选择的准直器直径有0.1、0.2、0.3和1.27毫米。特别设计的铝钛板在检测轻制样品时能大幅降低背景噪音，从而达到更低的检测下限。对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测