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租赁HP4291A阻抗分析仪AGILENT4291A

时间:2017-06-06 14:52

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  专卖~HP4291B、Agilent4291B 阻抗测试仪HP4291B

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  服务至诚!您的满意是我的追求!

  主要技术指标

  4个元件测试夹具(被测件尺寸:0.5 mm至20 mm)

  独立选择2个通道的参数

  直接读取介电常数、导磁率(选件)

  2个材料夹具(工作温度:-55至+200摄氏度)

  多功能分析(温度、科尔-科尔图表、松弛时间)

  扫描参数(频率、交流电平、直流偏置、温度)

  宣传资料 2006-07-13 |  PDF 697 KB | 订购拷贝件

  描述

  Agilent 4291B射频阻抗/材料分析仪是针对表面封装元器件和介电/磁性材料的高精度测量的完整解决方案。与反射测量技术不同,Agilent 4291B使用直接的电流-电压测量技术,可在广泛的阻抗范围内提供更精确的阻抗测量结果。

  基本阻抗精度是+/- 0.8%。高Q精度有利于进行低损耗元器件分析。内置合成器扫频范围从1 MHz到1.8 GHz,具有1 MHz的分辨率。1.8米长的精密电缆可将分析仪连接到测试站,以便您将测试点延伸到分析仪之外,而不会影响测量精度。先进的矩阵和错误补偿功能消除了夹具的测量错误,确保DUT/MUT的高精度和可重复性。

  Agilent 4291B还提供自动电平精度控制和用IBASIC程序功能监视测试信号;可在恒压或恒流下测量器件。用可选的直流偏置(达40V和100mA)使测量偏置独立于阻抗特性。只要按一个按钮,内装的等效电路分析功能就自动计算5种电路模型的电路常数值。

  Agilent 4291B有2个测量通道;每一个通道都可设置为测量1个(即Z)或2个(即Z-theta)阻抗参数。具有分割显示的彩色TFT可显示有效示踪和存储器示踪(保存在RAM中)。内部软盘驱动器以LIF或MS-DOS格式保存程序和测试数据。有了内装IBASIC,您就能从Agilent 4291B直接控制恒温箱或园片探测器这类外部测试设备,而不需要单独的仪器控制器。

  材料评估

  Agilent 4291B能容易地进行全面的材料评估,提高材料评估的质量和效率。Agilent 4291B提供宽频率范围(1MHz至1GHz)介电/磁性材料测量的总体解决方案。