领先的超高精度测量设备制造商Taylor Hobson推出非接触式光学3D形貌仪Talysurf CCI Lite，为全球制造和研发市场提供前所未有的高性能非接触3D测量技术。Talysurf CCI基于Taylor Hobson的Coherence Correlation Interferometry专利技术，该技术提供具有大范围扫描和高分辨率的单模式操作。

　　​台式超精密三维表面轮廓光学测量仪可在精密加工工业与科研领域中进行高性能的精密光学测量。

　　Talysurf CCI Lite 是一台先进的光学干涉仪，它采用了创新的，获得专利的相关相干算法，通过精密光学扫描系统来寻找相干峰与相位点。

　　*灵活性

　　Talysurf CCI Lite 对于高精度的三维表面测量而言是无价的。通过采用安装在系统上的不同放大倍数的镜头，可以检测多种类型的表面；高度灵活的光学系统具有全自动工作台与多种自动测量模式。

　　*能测量各种类型的表面

　　Talysurf CCI Lite的一项主要特色还在于它的多功能性，无论是光滑的、粗糙的、曲面的、平面的或者台阶表面，只要反射率在0.3%到100%之间，都可以使用同一模式进行测量，而不用担心模式选择的问题。可测量各种类型的材料，如玻璃、液体油墨、感光材料、金属、复合材料及粘膜等。

　　*数据分析软件

　　通过最新国际通用的各种三维与二维表面参数来分析与量化表面。

　　垂直分辨率高达0.1 ? (0.01 nm)

　　噪音低于0.8 ? (0.08 nm) （针对实际测量）