AVI-GW04导波雷达液位计工厂
技术发展趋势与创新方向
79-81GHz频段开放使角分辨率提升至0.5°，可识别小型障碍物。MIMO技术通过4×4天线阵列实现三维物位成像，实验室精度达±1mm。太赫兹雷达（300GHz）正在研发，适用于纳米粉体测量。AI驱动的自适应滤波算法能自动优化回波处理参数，调试时间缩短90%。数字孪生技术实现虚拟传感器校准，预测剩余寿命准确率＞95%。2025年将普及的5G工业物联网（IIoT）版本，支持毫秒级刷新率与云端协同控制。
导波雷达液位计
关键字:导波雷达液位计,液位计
HJRD32导波雷达液位计具有低维护，高性能、高精度、高性，使用寿命长等优点。在与电容，重锤等接触式仪表相比较，具有无可比拟的性。微波信号的传输不受大气的影响，所以它可以满足工艺过程中挥发性气体、高温、高压、蒸汽、真空及高粉尘等恶劣环境的要求。该产品适用于高温、高压、真空、蒸汽、高粉尘及挥发性气体等恶劣环境，可对不同料位进行连续测量。该仪器主要技术达到或优于国内外同类产品,且安装调试简便，可以单台使用，也可组网使用，可广泛应用于冶金、建材、能源、石化、水利、粮食等行业。
导波雷达液位计技术参数:
应 用:液体
测量范围:6米
过程连接:螺纹、法兰
过程温度:-40-250℃
过程压力:-0.1~2MPa
精 度:±3mm
频率范围: 100MHZ-1.8GHZ
防爆等级:Exib IIC T6 Gb
防护等级:IP67
信号输出:4—20mA/HART（两线）
导波雷达液位计特点说明:
特点:
1.可以测量介电常数大于等于1.4的介质。
2.一般用于测量粘度≤500cst而且不容易产生粘附的介质。
3.杆式雷达量程可以达到6米。
4.对蒸汽和泡沫有很强的抑制能力，测量不受影响。
5.对于介电常数比较小的液体物料可以采用双探杆式测量方式，以保障良好的准确测量精度。
测量原理
产品是基于时间行程原理的测量仪表，雷达波以光速运行，运行时间可以通过电子部件被转换成物位信号。探头发出高频脉冲并沿缆绳传播，当脉冲遇到物料表面时反射回来被仪表内的接收器接收，并将距离信号转化为物位信号。
输入
反射的脉冲信号沿缆绳传导至仪表电子线路部分，微处理器对此信号进行处理，识别出微波脉冲在物料表面所产生的回波。正确的回波信号识别由智能软件完成，距离物料表面的距离 D 与脉冲的时间行程 T 成正比: D=C×T/2 其中 C 为光速
因空罐的距离 E 已知，则物位 L 为: L=E-D
输出
通过输入空罐高度 E（= 零点），满罐高度 F（= 满量程）及一些应用参数来设定，应用参数将自动使仪表适应测量环境。对应于 4－20mA输出。
测量范围:
F---- 测量范围
E---- 空罐距离
B---- 顶部盲区
K---- 探头到罐壁的距离
顶部盲区是指物料高料面与测量参考点之间的小距离。
底部盲区是指缆绳底部附近无法测量的一段距离。
顶部盲区和底部盲区之间是有效测量距离。
安装位置:
1.尽量远离出料口和进料口。
2.对金属罐和塑料罐，在整个量程范围内不碰壁。如果是金属罐，物位仪表不要安装在罐的。
3.建议安装在料仓直径的1/4处。
4.缆式探头或杆式探头离罐壁距离不小于30厘米。
5.探头底部距罐底大约30mm。
6.探头距罐内障碍物距离不小于200mm。
7.如果容器底部是锥型的，传感器可以安装
8.罐顶，这样可以一直测量到罐底。
导波雷达液位计安装图:
图一（安装指南）
图二（导波管）
导波雷达液位计选型表:
仪表型号 探头类型 量程 材质
HJRD32 杆式探头 6000mm 不锈钢
HJRD32-防爆
P 标准型 ( 非防爆 )
I 本安型 (Exib Ⅱ C T6)
D 本安型＋隔爆型 (Exd ib Ⅱ C T6)
HJRD32-杆式探头
A 6mm
B 10mm
HJRD32-过程连接/材料
G G1½"A 螺纹/不锈钢
GA G1"A 螺纹/不锈钢
N 1½"NPT 螺纹/不锈钢
NA 1"NPT 螺纹/不锈钢
C 法兰 DN50 PN16 C 型
D 法兰 DN80 PN16 C 型
E 法兰 DN100 PN16 C 型
F 法兰 DN150 PN16 C 型
H 法兰 DN200 PN16 C 型
K 法兰 DN250 PN16 C 型
Y 约定
HJRD32-密封温度
P 普通密封 /-40...100℃
G 高温密封 /-40...250℃带散热片
HJRD32-电子单元
2 （4 ～ 20）mA /24V DC 两线制
3 （4 ～ 20）mA /24V DC/HART 两线制
4 （4 ～ 20）mA /24V DC/HART 四线制
5 （4 ～ 20）mA /220V AC/HART 四线制
HJRD32-外壳/防护等级/天线防护等级
P 塑料 /IP65
L 铝 /IP67
HJRD32-电缆接口
M M20*1.5
N ½"NPT
HJRD32-编程/显示
V 带
X 不带
HJRD32-量程（mm）
备注:
相关信息
Endress+Hauser导波雷达液位计 Levelflex FMP54 - 导波雷达物位仪导波雷达测量 行程时间原理 Levelflex FMP54适用于油气、化工和电力等行业的高温高压测量场合免维护的液位和界面连续测量仪表适合在油气，化工和电力等行业的高温高压场合应用温度范围: -196至 +450 °C, 压力范围: -1至+400bar Levelflex FMP55 - 导波雷达物位仪导波雷达测量 行程时间原理 Levelflex FMP55的多参数技术实现界面测量免维护的液位和界面连续测量仪表用一台仪表可以同时地监测界面和液位总值温度范围: -50至 +200 °C, 压力范围: -1至+40bar Levelflex FMP56 - 导波雷达物位仪导波雷达测量 行程时间原理 Levelflex FMP56适用于固体散料物位测量的经济、的基本型仪表免维护的固体散料连续测量仪表高性价比温度范围: -40至 +120 °C, 压力范围: -1至+16 bar Levelflex FMP57 - 导波雷达物位仪导波雷达测量 行程时间原理 Levelflex FMP57适用于固体散料物位测量的标准传感器，满足zui高测量要求。免维护的固体散料连续测量仪表标准传感器-开发过程符合IEC 61508标准，单台仪表满足SIL2， 同构冗余条件下达SIL3温度范围: -40至 +185°C, 压力范围: -1至+16 bar Micropilot FMR50 - 雷达物位仪雷达测量 行程时间原理 Micropilot FMR50适用于液位测量的基本型仪表非接触、免维护的液体测量,同时能有效介质的渗透高性价比温度范围: -40至 +130 °C, 压力范围: -1至+3 barEndress+Hauser导波雷达液位计 Levelflex FMP50 - 导波雷达物位仪导波雷达测量 行程时间原理 Levelflex FMP50适用于液位测量的基本应用免维护的液位和界面连续测量仪表高性价比温度范围: -20至 +80 °C, 压力范围: -1至+6 bar Levelflex FMP51 - 导波雷达物位仪导波雷达测量 行程时间原理 Levelflex FMP51满足液位测量zui高要求的标准传感器免维护的液位和界面连续测量仪表标准传感器-开发过程符合IEC61508标准，单台仪表满足SIL2， 同构冗余条件下达SIL3温度范围: -40至 +200 °C, 压力范围: -1至+40 bar Levelflex FMP52 - 导波雷达物位仪导波雷达测量 行程时间原理 Levelflex FMP52带涂层的探杆，适用于腐蚀性液体测量免维护的液位和界面连续测量仪表探杆表面涂层，适用于腐蚀性液体温度范围: -50至 +200 °C, 压力范围: -1至+40 bar Levelflex FMP53导波雷达测量 行程时间原理 Levelflex FMP53满足生命科学和食品行业的zui高卫生要求免维护的液位连续测量仪表满足生命科学和食品行业的zui高卫生要求温度范围: -20至 +150 °C, 压力范围: -1至+16bar
AVI-GW04导波雷达液位计工厂
在化工、油气、食品等行业中，经常需要测量不同液体之间的分界面的高度，从而控制反应过程、原料储量等。
MTS传感器部门生产的Level Plus系列液位计采用MTS的Temposonics®磁致伸缩传感技术，配合特定密度的磁性浮子，可对不同液体的分界面高度进行测量。
市场上测量液体分界面高度的产品群雄逐，招式各有千秋，小编将一一细数，看看哪种测量原理能拔得头筹！
一、射频导纳液位计（电容液位计）
射频导纳液位计的传感器是一根带特氟龙涂层的金属杆或者柔性金属缆，需要插入被测液体内。这样金属杆（缆）和容纳被测液体的金属罐壁之间就会产生电容，这个电容在射频电路（频率达到300Ghz）下被放大到测量的电导纳值。如果被测液体分层后形成上层油下称水的分层，那么会形成C1、C2和C3三个电容值。因为水的导电性能使C3的值大，则射频导纳液位计测量得到的电容值主要取决于C3的值。因此水位的高度就和C3的值几乎成正比例关系。
根据以上测量原理，射频导纳测量分界面的必要条件和限性:
1、 上层液体不能导电，如苯、碳氢化合物等;下层被测液体是导电液体，如普通水或者水溶液。
2、 对分界面测量精度要求不高。因为上层油的高度和被测罐体的形状等都会被测精度影响。
二、导波雷达液位计
导波雷达液位计的传感器也是金属杆或者金属缆插入被测液体内。液位计的电子头发射雷达波脉冲。雷达波脉冲会沿着金属杆或者金属缆朝向被测液体传播，当到达介电常数发生变化位置时会产生反射。液位计电子头计算发射雷达波脉冲和接受雷达波脉冲的时间差来确定被测液位的高度。如下图，如果被测液体上层油下称水，则雷达波分别在从空气进入油的时候、以及从油进入水的时候分别发生反射。
从导波雷达的测量原理可知其测量分界面的必要条件:
1、 雷达波发生反射的必要条件是介电常数发生变化。如果介电常数的变化很小的话，雷达波的反射信号也很小以至于无法测量。因此导波雷达测量分界面要求下层液体的介电常数比上层液体的要大得多。而介电常数的大小一般无法通过常规手段测量，而且介电常数大小很容易受到环境温度、电磁频率、罐内的化学反应等影响。这就决定了无法轻易判断导波雷达能否和应用环境相适应。
2、 为了保持雷达波穿过上层液体后还有的能量在分界面上还能产生反射，一般要求传感器是一个同轴结构。上图是导波雷达测量分界面的安装要求，左边是导波雷达的测量杆和测量筒是一个同轴结构，右图中导波雷达的测量杆安装在一个布满倒液孔的测量管内。同轴结构内外的分界面变化有时无法真正同步会导致测量误差。而且粘性较大的液体会粘连在同轴结构内干扰测量。
3、 如果要测量被测液体分界面知道上层液体的具体介电常数。因为雷达波穿过空气的速度是光速，而穿过上层液体的速度小于光速且和其介电常数成反比。因为介电常数不容易测量且善变，因此导波雷达很难测量分界面高度。
三、浮筒液位计
浮筒液位计测量分界面一般安装在罐体的侧面，把被测液体通过两个法兰口从被测罐引入测量筒内，同时测量通内还有一个浮子通过一些机械结构和电子头相连。通过测量浮子受到浮力的变化来感应测量筒内液体的平均密度，从而评估出被测分界面的高度（假定测量筒内只有两种液体）。浮筒液位计不要求被测液体的导电性和介电常数。
根据浮筒液位计的原理和内部结构，其测量分界面的必要条件和限:
1、 只能安装在被测罐体侧面，且测量筒内没有空气。
2、 为了测量的精度定期进行校准，因为浮子到电子头之间的力传输结构会随着时间而偏移设定。
3、 因为测量筒的狭小结构，被测液体中的固体或者粘性物质会使浮子卡在测量筒内，无法真正反映分界面高度。
四、双法兰液位计
双法兰液位计通过测量两个固定位置的压力差来反映两个位置之间的液体的平均密度从而间接测量分界面高度。双法兰液位计也是安装在罐体的侧面，但是不需要测量筒，因此解决了上面浮筒液位计内浮子容易卡死的问题。
双法兰液位计通过充油的毛细管把罐内的两个压力值传输到电子头部分。因此双法兰液位计的界面测量受到以下因素的影响:
1、 环境温度变化对毛细管内油压有明显影响，因此长的测量范围要长的毛细管，从而导致温度变化对测量精度也影响很大。
2、 两个法兰之间充满液体。
3、 毛细管充油需要的生产技术，因此测量范围对仪表价格影响很大。
4、 安装过程要毛细管不要受到外部机械冲击，毛细管受损或者油路堵塞。
五、终篇 - 磁致伸缩液位计
磁致伸缩液位计通过测量浮在分界面上的磁性浮子的位置来测量分界面的高度。MTS生产的Level Plus系列液位计可以实现测量误差控制在1毫米以内，大的测量范围可以达到22米。磁致伸缩液位计的测量不依赖于液体的导电性、介电常数等物理参数，只是基于不同液体的密度差。密度差和相互不溶解是形成分界面的必要条件。
Level Plus系列
磁致伸缩液位计只要选择好特定浮子的密度，安装后不需要定期的维护和标定就能液位计的长期性和性。
磁致伸缩液位计的应用限性在于不能用于操作粘度很高的液体（建议粘度小于400厘泊）。高粘度液体容易把浮子粘在一个位置不变，导致磁致伸缩液位计测量到的浮子位置不能准确反映分界面高度。
Level Plus磁致伸缩液位计应用实例
1、 二硝基甲苯（DNT）和水的分界面
因为二硝基甲苯（DNT）相对于水的比重是1.52，因此在罐内是下层液体，因此无法使用射频导纳、导波雷达。而且因为现场的测量范围超过4米，因此无法使用浮筒液位计和双法兰液位计。通过使用Level Plus系列磁致伸缩液位计可以同时测量反应罐内的液位和分界面高度，从而对化学反应过程控制。
2、 液体白磷和水的分界面
白磷是生产磷酸类物质的基本原料。但是因为白磷在空气容易自然，而且有毒，因此一般都储存在具有水封的储存槽内。Level Plus液位计可以对水封下的白磷存量进行实时监控，同时水封的厚度白磷和空气接触。
3、 大型成品油罐
炼化工厂、燃料输送系统等都有一些成品油储罐、转运罐等，这些罐子高度都有15～20米高。因为有些成品燃油会吸收空气中的水分，导致很多罐底都有积水。MTS传感器生产的Level Plus液位计可以同时测量罐内成品油液位和油水分界面的高度，同时还可以根据液位计内部的罐容表来计算罐内容量，并且输出罐内的成品油温度。Level Plus液位计只通过罐上的一个测量孔，就可以同时输出液位、分界面高度、罐内容量和温度的测量结果，满足石油组织对成品燃油的交接计量要求。
原 理
导波雷达发出的高频微波脉冲沿着探测组件（钢缆或钢棒）传播，遇到被测介质，由于介电常数突变，引起反射，一部分脉冲能量被反射回来。发射脉冲与反射脉冲的时间间隔与到被测介质的距离成正比。
容器中存在两种不同介质，当上面一层的介质介电常数较小，而下面的介质介电常数较大时，高频微波脉冲沿着探测组件传播遇到上层介质时，由于其介电常数较小，因而有少的能量被这一层介面反射，而大部分能量穿透上层介质继续向下传播，遇到两层的介面时，由于下层介质的介电常数较大，因而会有较大的能量被反射回来。因而导波雷达是可以测量两种不同介质的介面，其测量条件是上层介质不导电或其介电常数比下层介质介电常数小10以上。
特 点
由于采用了的微波处理器和*的EchoDiscovery回波处理技术，导波雷达物位计可以应用于各种复杂工况。
多种过程连接方式及探测组件的型式，使得CDGW系列导波雷达物位计适用于各种复杂工况。如:高温、高压及小介电常数介质等。
采用脉冲工作方式，导波雷达物位计发射功率低，可安装于各种金属、非金属容器内，对人体及环境均无伤害。
技术参数
应用:液体测量,高温高压工况,复杂过程条件
zui大量程: 缆:30m/棒:6m
测量精度:±10mm
过程连接:G1½A/G2A/1½NPT
探测组件材料:不锈钢316L/陶瓷
钢缆/棒直径:￠6mm/￠10mm
过程温度:-200～400℃
过程压力:真空～400bar
信号输出:两线制4～20mA/HART
安装要求
在整个量程内确保缆或棒不要接触到内部障碍物，因此安装时应尽可能避开罐内设施，如:人梯、限位开关、加热设备、支架等。另外须注意缆或棒不得怀加料料流相交。
安装仪表时还要注意:zui高料位不得进入测量盲区；仪表跑罐壁保持一定的距离；仪表的安装尽可能使缆或棒方向怀被测介质表面垂直。
安装在防潮区域内的仪表遵守国家防爆危险区的安装规定。本安型的外壳采用铝壳。本安型仪表可安装在有防爆要求的场合，仪表接大地。
测量盲区
从测量的基准面向下的一段区域内缆或棒zui低部位无法测量的一段区域内是导波雷达物位计的测量盲区。
选型指南
CDGW540高温高压型
P
标准型（非防爆）
I
本安型（ Exia ⅡC T6）(只可选用铝外壳)
探测组件形式/材料/过程温度
A
缆式/￠6mm/不锈钢316L/陶瓷/-200～＋400℃
B
棒式/￠10mm/不锈钢316L/陶瓷/-200～＋400℃
过程连接
GP
螺纹G1½A
KP
螺纹G2A
NP
螺纹1½NPT
外壳/防护等级
S
塑料/IP66
A
铝/IP66
电缆进线
M
M20＊1.5
N
1½NPT
现场显示
A
带
X
不带
编程器
B
带
X
不带
zui大量程
A
缆:30m
B
棒:6m
1、防腐导波雷达物位计产品概述:
防腐导波雷达物位计是采用微波技术来检测料位的高科技产品，该料位仪利用微波具有穿透性好，对恶劣环境及被测物料适应性强等特点，利用雷达原理、数字信号处理技术和傅里叶变换（FFT）技术。采用连续式乍动测量，能测量液体、固体（块状、粉状）料位，具有测距远、精度高等特点
防腐导波雷达物位计具有低维护，高性能、高精度、高性，使用寿命长等优点。在与电容，重锤等接触式仪表相比较，具有无可比拟的性。微波信号的传输不受大气的影响，所以它可以满足工艺过程中挥发性气体、高温、高压、蒸汽、真空及高粉尘等恶劣环境的要求。该产品适用于高温、高压、真空、蒸汽、高粉尘及挥发性气体等恶劣环境。可对不同料位进行连续测量。该仪器主要技术达到或优于国内外同类产品,且安装调试简便，可以单台使用，也可组网使用，可**应用于冶金、建材、能源、石化、水利、粮食等行业。
2、导波雷达物位计技术参数:
应 用:腐蚀性液体
测量范围:杆式6米/缆式20米
过程连接:法兰
过程温度:-40~120℃
过程压力: -0.1~2MPa
精 度:±3mm
频率范围:100MHZ~1.8GHZ
防爆等级:Exib IIC T6 Gb
防护等级:IP67
信号输出:4—20mA/HART（两线）
3、防腐导波雷达物位计使用说明:
测量原理
防腐导波雷达物位计是基于时间行程原理的测量仪表，雷达波以光速运行，运行时间可以通过电子部件被转换成物位信号。探头发出高频脉冲并沿缆绳传播，当脉冲遇到物料表面时反射回来被仪表内的接收器接收，并将距离信号转化为物位信号。
输入
反射的脉冲信号沿缆绳传导至仪表电子线路部分，微处理器对此信号进行处理，识别
出微波脉冲在物料表面所产生的回波。正确的回波信号识别由智能软件完成，距离物料表
面的距离 D 与脉冲的时间行程 T 成正比: D=C×T/2 其中 C 为光速
因空罐的距离 E 已知，则物位 L 为: L=E-D
输出
通过输入空罐高度 E（= 零点），满罐高度 F（= 满量程）及一些应用参数来设定，应
用参数将自动使仪表适应测量环境。对应于 4－20mA输出。
测量范围
F---- 测量范围
E---- 空罐距离
B---- 顶部盲区
K---- 探头到罐壁的***小距离
顶部盲区是指物料***高料面与测量参考点之间的***小距离。
底部盲区是指缆绳***底部附近无法***测量的一段距离。
顶部盲区和底部盲区之间是有效测量距离。
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