MGS2100LSB2OAAX1500XHEFB-XBGFAAX/GD导波雷达物位计批发

名称:MGS2100LSB2OAAX1500XHEFB-XBGFAAX/GD导波雷达物位计批发

供应商:湖北物位帝智能装备有限公司

价格:面议

最小起订量:1/件

地址:湖北省武汉市洪山区青菱街道青菱大道青菱都市工业园联东U谷生态科技工业园

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产品编号:221523341

更新时间:2025-07-13

发布者IP:117.150.165.250

详细说明
产品参数
型号:多样
是否可定制:是
规格:不限
防腐性:好
范围:全国
产品优势
产品特点: 湖北开物位帝能装备有限公司主要生产雷达物位计、雷达液位计、雷达料位计、传感器、防爆物位开关、射频导纳料位计、静电容液位计、、超声波液位计、磁翻板液位计、浮球液位开关、接近开关、光电开关、声光报警器、防爆接线盒、防爆按钮开关、防爆磁性开关、跑偏开关、拉绳开关、皮带防打滑开关、皮带纵向防撕裂开关、声光报警器、温度变送器、压力变送器、差压开关热电偶热电阻等产品
服务特点:

  MGS2100LSB2OAAX1500XHEFB-XBGFAAX/GD导波雷达物位计批发

  技术发展趋势与创新方向

  79-81GHz频段开放使角分辨率提升至0.5°,可识别小型障碍物。MIMO技术通过4×4天线阵列实现三维物位成像,实验室精度达±1mm。太赫兹雷达(300GHz)正在研发,适用于纳米粉体测量。AI驱动的自适应滤波算法能自动优化回波处理参数,调试时间缩短90%。数字孪生技术实现虚拟传感器校准,预测剩余寿命准确率>95%。2025年将普及的5G工业物联网(IIoT)版本,支持毫秒级刷新率与云端协同控制。

  介质测量的定制方案

  高温熔体(>400℃)测量采用水冷法兰(流量2m³/h)保护传感器,波导延伸管耐温达800℃。强粘附性介质使用自清洁天线,每秒1次的微振动挂料。某沥青储罐应用案例中,带刮刀装置的传感器使维护周期从1周延长至6个月。卫生型设计满足3A标准,Tri-Clamp快装接口表面粗糙度Ra<0.8μm。研发的透波窗口材料(如蓝宝石)可测量ε<1.4的介电常数介质。

  导波雷达液位计测量原理

  接触式雷达是基于时间行程原理的测量仪表。雷达波以光速运行,运行时间可以通过电子部件被转换成物位信号。传感器发射出脉冲并沿缆式或杆式传导,当脉冲波遇到物料表面时反射回来被仪表内的接收器接收并将距离信号转化为物位信号。

  导波雷达液位计输入

  反射的脉冲信号沿缆式或杆式传至仪表电子线路部分,微处理器对信号进行处理,识别出微波脉冲在物料表面所产生的回波。正确的回波信号识别由智能软件完成,距离物料表面离D与脉冲的时间行程T成正比: D=C×T/2 其中C为光速因空罐的距离 E 已知,则物位 L 为: L=E-D

  导波雷达液位计输出

  通过输入空罐高度 E(= 零点),满罐高度 F(= 满量程)及一些应用参数来设定,应用参数将自动使仪表适应测量环境。对应于 4 - 20mA 输出。

  MGS2100LSB2OAAX1500XHEFB-XBGFAAX/GD导波雷达物位计批发

  雷达物位计工作原理:微波物位计工作方式类似雷达:向被测目标发射微波,由目标反射的回波返回发射器被接收,与发射波进行比较,确定目标存在并计算出发射器到目标的距离。

  相关参数:工作电源:AC220V±10% 或 DC24V功耗: 5W 显示方式:光柱显示测量:≤±1% F·S传感器防护等级:IP65仪表工作环境温度: -40~45℃探工作(介质)温度: 普通型: -20~60℃中温型: -40~200℃ 高温型: -40~800℃介质压力: 压力型≤3MPa(其余型号为常压)传感器与二次仪表的连线及距离:距离 <200m,用直径1.5mm 以上的导线(是双绞线)连接,每条导线电阻应小于3 欧姆检测范围: ≤11000p报警输出方式:两组继电器常开、常闭触点,对应高、低两点输出,分别可选物位的 90%、80%、70% 和 30%、20%、10% ,出厂是置于80%和20%处。(触点容量AC250V,0.3A;DC28V,0.5A;电阻负载)变送输出:4~20mA二次仪表外型尺寸: 48(宽)× 96(高)× 112(深)二次仪表开孔尺寸: 43+1(宽)× 91+1(高)

  (1)当测量液态物料时,传感器的轴线和介质表面保持垂直;当测量固态物料时,由于固体介质会有一个堆角,传感器要倾斜一定的角度。(2)尽量避免在发射角内有造成假反射的装置。要避免在距离天线近的1/3锥形发射区内有障碍装置(因为障碍装置越近,虚假反射信号越强)。若实在避免不了,建议用一个折射板将过强的虚假反射信号折射走。这样可以减小假回波的能量密度,使传感器较容易地将虚假信号滤出。(3)要避开进料...

  ——Shenzhen Jiwei Automations Ltd.——

  百 · 科

  雷达物位计作为一种的非接触式物位测量仪表,其工作原理基于电磁波的传播和反射特性。

  本文将详细介绍计为Rada-11雷达物位计的工作原理,包括发射雷达波束、波束与物体互作、检测反射波时间、计算物位高度、显示输出结果等方面,并探讨其在多种应用环境中的表现以及高测量准确度的特点。

  Rada-11雷达物位计

  一、发射雷达波束

  计为Rada-11雷达物位计通过内置的发射器向目标物体发射高频雷达波束。

  这些波束通常以脉冲或连续波的形式发射,具有特定的频率和波形。

  发射的雷达波束在空间中传播,直到遇到目标物体。

  二、波束与物体互作

  当雷达波束遇到目标物体时,部分波束能量会被物体表面反射回来。

  反射的波束能量取决于物体的材质、形状、大小以及表面特性等因素。

  物体的不同特性会对反射波束产生不同的影响,这也是雷达物位计能够区分不同物体的关键。

  当雷达波束遇到目标物体时,

  部分波束能量会被物体表面反射回来

  三、检测反射波时间

  雷达物位计通过内置的接收器检测反射回来的波束。

  接收器会记录从发射波束到接收反射波束的时间差。

  这个时间差与雷达波束的传播速度(即光速)相乘,可以得到雷达波束与目标物体之间的距离。

  四、计算物位高度

  基于接收到的反射波时间,雷达物位计可以计算出目标物体的距离。

  在物位测量中,这个距离即为物位高度。

  通过一定的算法和数据处理,雷达物位计可以将这个距离转换为实际的物位高度值。

  基于接收到的反射波时间,

  雷达物位计可以计算出目标物体的距离

  五、显示输出结果

  雷达物位计通常配备有显示模块或通讯接口,用于将计算得到的物位高度值进行显示或输出。

  用户可以通过显示模块直接查看当前的物位高度,也可以通过通讯接口将数输到上位机或控制系统进行进一步处理和分析。

  六、多种应用环境

  计为Rada-11雷达物位计凭借其的性能,适用于多种应用环境。

  无论是室内还是室外,无论是液体还是固体物料,雷达物位计提供的物位测量解决方案。

  同时,雷达物位计还具有一定的抗干扰能力,能够在复杂的电磁环境中正常工作。

  Rada-11雷达物位计凭借其的性能,

  适用于多种应用环境

  七、测量准确度高

  雷达物位计的测量准确度高,通常可以达到毫米级甚至更高的精度。

  这得益于其采用的高频雷达波束和的信号处理技术。

  高频雷达波束具有较短的波长和较好的穿透能力,能够更准确地测量物体的距离和高度。

  同时,计为Rada-11雷达物位计还采用了一系列算法和校正方法,以消除环境因素和干扰对测量结果的影响,从而提高测量准确度。

  计为Rada-11雷达物位计还采用

  了一系列算法和校正方法,以消除

  环境因素和干扰对测量结果

  的影响,从而提高测量准确度

  八、原理总结

  综上所述,雷达物位计通过发射雷达波束、检测反射波时间、计算物位高度等步骤实现对目标物体的非接触式测量。

  其工作原理简单明了,同时具有较高的测量准确度和广泛的应用范围。

  在实际应用中,雷达物位计已成为许多行业进行物位测量的重要工具之一。

  MGS2100LSB2OAAX1500XHEFB-XBGFAAX/GD导波雷达物位计批发

  一、产品描述:

  智能型导波雷达液位计是*的雷达式物位测量仪表,测量zui大距离可达70米。天线被进一步优化处理,新型的的微处理器可以进行更高速率的信号分析处理,使得仪表适用于固体料、过程容器或强粉尘易结晶、结露场合。

  二、智能型导波雷达液位计主要技术参数:

  1、测量范围: 70米

  2、过程连接: 螺纹、法兰

  3、介质温度: -40~400℃

  4、过程压力: -0.1~4.0MPa

  5、精 度: ±2mm

  6、防护等级: IP67

  7、频率范围: 26GHz

  8、防爆等级: Exia ⅡC T6 Ga

  9、信号输出:4...20mA/HART(两线/四线)   RS485/Mod bus

  三、智能型导波雷达液位计产品特点:

  1、非接触雷达,无磨损,

  2、天线尺寸小,便于安装

  3、波长更短,对在倾斜的固体表面有的反射

  4、测量盲区更小,对于小罐测量也会取得良好的效果

  5、波束角小,能量集中,增强了回波能力的同时,又有利于避开干扰物

  6、几乎不受腐蚀、泡沫影响

  7、几乎不受大气中水蒸气、温度和压力变化影响

  8、严重粉尘环境不会影响电磁波工作

  9、高信噪比,即使在波动的情况下也能获得更优的性能

  10、26GHz频率,是测量固体和低介电常数介质的选择