江苏GDRD87-PNWDFCABAMB雷达物位计
不同工业场景中的选型要点
在石化行业储罐测量中,需选用防爆型雷达物位计(Ex d IIC T6标准),并考虑介电常数对信号衰减的影响;水泥厂粉仓测量宜采用高频雷达克服粉尘干扰,天线需选择PTFE密封的平面型;污水处理厂则适合配备泡沫穿透算法的型号,波导式天线能有效应对液面波动。食品医药行业要求316L不锈钢材质和卫生型法兰连接。选型时需综合评估过程压力(真空至100bar)、介质特性(介电常数>1.4可稳定检测)及安装条件(最小法兰尺寸DN50),避免出现测量盲区。
好的,我们来详细解释一下雷达物位计的工作原理,并尝试用文字描述其原理图解。
雷达物位计的核心工作原理是利用电磁波(通常为微波) 发射到被测物料表面并接收其回波,通过测量电磁波往返传播所需的时间来计算物料表面到天线(参考点)的距离,进而确定料位高度。
基本公式简单:
:光在空气中的速度 (约 3 * 10⁸ m/s)
:电磁波从天线发出到接收反射回波之间的时间差
:天线到物料表面的直线距离
:天线到罐底或零点(参考基准)的已知距离
:物料的实际高度 (料位)
信号发射: 变送器中的高频电子电路产生特定频率(如 6GHz, 26GHz, 80GHz K波段)的微波脉冲信号或连续波调频信号。
信号传播: 此微波信号通过天线(如喇叭天线、杆式天线、抛物面天线或导波缆/杆)向被测介质(液体、浆料、固体颗粒)的表面辐射发射出去。
信号反射: 当电磁波遇到介电常数(ε)明显不同于空气(或罐内气体)的物料表面时,根据物理学的反射定律,一部分能量会被反射回来。
介电常数越高(如导电液体、水溶液等),反射越强,信号越好。
介电常数越低(如干燥粉粒、泡沫、水蒸气),反射越弱,信号越差(需要更高频率或技术)。
信号接收: 同一个(或特定接收)天线接收到被物料表面反射回来的微弱回波信号。
信号处理: 这是关键的一步,电子处理单元将接收到的回波信号与发射信号进行比较和分析:
识别有效回波: 从接收到的信号(可能包括罐壁反射、内部结构反射、噪声等)中准确识别出物料表面的有效回波信号。
测量时间差 (Δt): 测量微波信号从发射到接收到有效回波所经过的时间 。
距离计算: 利用光速 和测得的 ,根据公式 计算出天线到物料表面的距离 。
物位计算: 结合预先设定或已知的罐体参考基准距离(从安装法兰/天线基准点到罐底或零点的距离 ),计算出物料的实际高度 。
输出信号: 将计算出的物位高度 转换成标准的工业控制信号(如 4-20 mA)或数字通信信号(如 HART, Profibus PA, Foundation Fieldbus),传输给显示仪表、控制系统或上位机。
想象一个侧面剖开的立式罐:
顶部: 罐顶安装着雷达物位计变送器头,它包含了发射器、接收器和信号处理器。
天线: 变送器下方连接着一个喇叭形天线(常见,用于非接触式),垂直向下延伸进入罐体空间。或者是从变送器延伸下来的一根导波缆或导波杆(用于导波雷达)。
罐体: 罐壁标有高度刻度。
罐底: 罐底标为参考点(零点)。
信号传输(非接触式):
从喇叭天线口向下发射出圆锥状的微波束(实线箭头)。
箭头尖端抵达物料表面(液体或固体)。
在物料表面处,一个向后的箭头代表回波反射,沿原路径返回喇叭天线。
在喇叭天线口和物料表面之间,清晰地标注出距离 。
在喇叭天线法兰(安装基准点)到罐底之间,清晰地标注出参考高度 。
物料表面到罐底的距离即为物位高度 。
信号传输(导波雷达):
如果使用导波雷达,则用实线表示导波缆/杆从变送器垂直伸入罐内,直达罐底附近。
微波信号沿着导波缆/杆表面向下传播(实线箭头沿杆)。
箭头在物料表面处标示。
在物料表面处,一个向后的箭头沿导波缆/杆向上,代表回波反射。
同样标出 , , 。区别是电磁波被约束在导波元件附近传播。
雷达物位计主要有两种实现ToF测量的技术:
脉冲式雷达:
发射固定频率的短脉冲微波信号。
直接测量发射脉冲与接收脉冲峰值之间的时间差 。
原理相对简单,成本较低。
需要强的回波以便检测峰值,在低介电常数或表面不稳定(波动/泡沫)时可能受限。
调频连续波雷达:
发射频率间线性变化(通常向上扫频)的连续微波信号。
在接收端,将当前发射的频率与被物料表面反射回来的频率(此信号在时间上有延迟,所以对应的是之前发射的较低频率)进行混频(差频)。
得到一个频率较低的差频信号(中频信号IF)。
这个中频信号的频率 与物料距离 成正比 ()。
测量中频频率 ,可以更地计算出距离 。
接收的是连续波能量,信噪比更高,抗干扰能力强,测量精度通常更高(尤其在近距离或复杂工况下),适用于低介电常数介质和存在泡沫的场合。但技术更复杂,成本通常更高。
非接触测量: 大多数(非导波)雷达不接触介质,适用于腐蚀性、粘稠、高压、高温等复杂工况。不受介质密度、压力、温度(本身)、气体组分(普通气体)影响。
抗干扰能力强: 电磁波穿透力强,能穿透泡沫、蒸汽和粉尘(粉尘过多时高频雷达效果)。
测量范围广: 从几米到上百米(导波雷达通常短距离更)。
高精度: 尤其FMCW雷达,精度可达±1mm。
安装相对简单: 只需预留安装法兰口。
维护量低: 无可动部件。
介质介电常数: 过低(<1.8)时,非接触雷达反射信号弱,测量困难。需选择高频雷达或改用导波雷达。
安装位置: 需避开进料口、搅拌器等干扰源。
天线结垢: 介质在喇叭天线上凝结或积料,会严重影响测量(尤其粉料)。需要选用防尘罩、天线(如平面天线、抛物面天线)或喷吹。
端泡沫层: 过厚过密的泡沫会吸收或散射信号。导波雷达或高频FMCW雷达通常表现。
测量盲区: 靠近天线附近一小段距离无法测量(约10-30cm,不同型号差异大)。安装时需确保料位高于盲区。
介电常数变化: 大幅度变化有时需要重新标定,但通常影响不大。
测量范围
精度要求
过程温度/压力
介质特性(液体、固体、颗粒大小、介电常数、粘附性、泡沫)
罐内安装环境(空间、蒸汽、粉尘、搅拌)
预算
雷达物位计利用微波信号的发射、传播、反射和接收,通过测量微波信号在空气中(或导波体上)往返物料表面的飞行时间,计算其距离,得出物位高度。它是一种、、非接触(大部分情况)的高精度物位测量方法,广泛应用于各种工业领域。脉冲雷达和FMCW雷达是实现这一基本ToF原理的不同技术路线,各有优劣。
希望这个详细的文字解释和原理图解描述能帮助你清晰地理解雷达物位计的工作原理!
江苏GDRD87-PNWDFCABAMB雷达物位计
雷达物位计属于通用型雷达液位计,它基于时间行程原理的测量仪表,雷达波以光速运行,运行时间可以通过电子部件被转换成物位信号。探头发出高频脉冲在空间以光速传播,当脉冲遇到物料表面时反射回来被仪表内的接收器接收,并将距离信号转化为物位信号。
测量方法:
雷达物位计是依据时域反射原理(TDR)为基础的雷达液位计,雷达液位计的部分脉冲被反射形成回波并沿相同路径返但是考虑到腐蚀及粘附的影响,测量范围的终值应距离天线的至少100mm。对于过溢保护,可定义一段雷达液位计距离附加在盲区上。小测量范围与天线有关。随浓度不同,泡沫既可以吸收微波,又可以将其反射,但在一定的条件下是可以进行测量的。回到脉冲发射装置。
测量原理:
雷达物位计是依据时域反射原理(TDR)为基础的雷达液位计,雷达液位计的电磁脉冲以光速沿钢缆或探棒传播,当遇到被测介质表面时,雷达液位计的部分脉冲被反射形成回波并沿相同路径返回到脉冲发射装置,发射装置与被测介质表面的距离同脉冲在其间的传播时间成正比,经计算得出液位高度。
雷达物位计的维护:
雷达液位计主要由电子元件和天线构成,无可动部件,在使用中的故障少使用中偶尔遇到的问题是,贮槽中有些易挥发的有机物会在雷达液位计的喇叭口或天线上结晶,对它们只要定期检査和清理即可,维护量少。
在日常维护中,可以用PC机远程观察反射波曲线图,对于后来可能新产生的干扰波,可以利用液位计有识别虚假波的功能,除去这些干扰反射波的影响,准确测量。
伴随着社会发展的进步,意识日益增强,行业的发展也受到重视。在这个过程中,HD-D800雷达物位计作为一种高精度、高性的物位测量仪表,在行业中得到了广泛应用。本文将介绍HD-D800雷达物位计在行业中的应用情况,以及其未来的发展趋势。
HD-D800雷达物位计是一种利用微波脉冲通过天线发射并接收物料反射的微波信号来测量物位的仪表。它具有测量精度高、性好、稳定性强等优点,因此在化工、石油、制、建材等行业中得到了广泛应用。HD-D800雷达物位计的测量原理是依据微波在空间传播的速度等于光速,通过测量微波信号的传播时间来计算物位的高度。
HD-D800雷达物位计在行业中有很多方面的应用:
1、在污水处理领域,HD-D800雷达物位计被广泛应用于污水池、污水处理装置、垃圾填埋场等场所的液位测量。通过实时监测液位高度,可以及时掌握污水处理的运行状况,处理效果。同时,HD-D800雷达物位计的高精度测量也可以帮助企业实现减排的目标。
2、垃圾焚烧发电,在垃圾焚烧发电领域,HD-D800雷达物位计被用于测量垃圾池中的垃圾高度。通过实时监测垃圾高度,可以垃圾焚烧的稳定运行,提高发电效率。同时,HD-D800雷达物位计也可以帮助企业实现垃圾减量化和资源化的目标。
3、水资源管理,在水资源管理领域,HD-D800雷达物位计被用于测量水库、水塔、水井等场所的水位。通过实时监测水位高度,可以及时掌握水资源的情况,供水稳定。同时,HD-D800雷达物位计的高精度测量也可以帮助企业实现节水减排的目标。
产品名称:导波雷达物位计
产品型号:YR
产品报价:
产品特点:导波雷达物位计是基于时间行程原理的电磁波测距系统。仪表探头发出的1GHz的微功率电磁波信号沿着探测组件(探杆或探测缆绳)以光速进行传播。当电磁波接触到被测物质表面时,由于介电常数发生突变,电磁波被反射回来。反射回来的电磁波沿着探测组件传播,并返回到仪表探头。电磁波的发射与接收的时间间隔与仪表探头到被测介质的距离成正比,由此能够计算出仪表探头到被测介质表面的距离。
物位测量的仪表在选型时,与压力或流量测量等仪表有很大不同。这是因为物位测量的现场情况千差万别,而生产商又很难设计出能满足工况应用的物位仪表。只有充分了解仪表特点及现场应用条件,才能正确选择所需要的产品,同时充分发挥仪表的测量性能。
雷达物位计的回波质量主要受以下因素影响:
1.传播介质的介电常数,该常数越稳定越有利于传播。雷达波是电磁波,电磁波在传播过程中不受传播介质稳定程度的影响,只与其介电常数有关。这是雷达技术与超声波技术的重大区别。
2.被测介质表面状况,表面越平整,其介电常数越大,则越有利于回波反射。
所以考虑现场情况时,应注意这两个方面:
1.天线到被测介质间空气介电常数的分布
2.被测介质的表面状态及其介电常数。
雷达物位计的优点是:不受空气波动影响,随距离衰减小,穿透力强。
雷达物位计的种类及应用:
雷达物位计目前已成为市场上的主流产品,主要分为脉冲雷达物位计和导波雷达物位计。低频脉冲雷达物位计尽管具有价格相对低廉的优点,但在主要应用领域中,属于逐渐被淘汰的产品。
与低频脉冲雷达物位计相比,高频脉冲雷达物位计在应用过程中有以下优点:
1.高频雷达物位计(主要指26GHz和24GHz)具有能量高,波束角小,天线尺寸小,精度高等优点。
2.26GHz雷达波长11mm,6GHz雷达波长50mm,雷达物位计在测量散装料位时,雷达波反射主要来自料面的漫反射,漫反射的强度与物料大小成正比,与波长成反比,而大部份散装料直径远远小于50mm,这就是目前26GHz雷达是测量散装料物位*选择的原因。