高频介电常数测试仪用于测试电工材料的介电系数和损耗角正切值,也用来测试高频阻抗元器件（电感、电容和其他谐振组件）的品质因数即:Q值。相对阻抗电桥法,高频震荡法的测试结果更真实地反映了材料器件在高频工作状态下的特性。

　　本仪器的测试回路可用被测元件L、主调谐电容C、回路的损耗电阻R构成的串联电路来等效，当测试回路谐振时（高频信号源输入信号的频率为谐振频率w0），主调电容上的电压是信号源输入电压的Q倍，或Q=w0L/R=1/w0CR，显然信号源频率w0的稳定度和精度、主调电容C的精度和分辨率、测试回路的高频损耗R决定了仪器的品质。模拟式的信号源稳定性差，主调电容的分辨率和读数精度低，使用复杂，并且不可避免地存在主观的操作误差。

　　WGJSTD-B传承第一代WGJSTD-A数码化、人性化设计理念，采用数字化主调电容、LCD大屏幕液晶显示全参数、DDS直接数字合成信号源三项创新技术，使WGJSTD-B的技术性能、使用功能大为提升,彻底改变了老款面板上印制的二组辅助表格计算LCQ的落后状况，WGJSTD-B读数清晰,无须换算，操作简便，特别适合电子元器件的质量分析、品质控制、科研生产,也可用于高等院校的材料科学、电子信息、电子通信、等专业作科研实验仪器。