详细说明
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产品参数
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公司区域:昆山
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包装:有
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售后服务:一年
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用途:半导体/电子 PCB板与Ste
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规格:450,600,800
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产地:美国
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品牌:QVI NIEW
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是否进口:是
XY 精度: E2=(2.0+4L/1000)um (E2=(1.5+5L/1000)um 高分辨率刻度尺)
Z 线性精度: E1=(1.8+5L/1000)um (E1=(1.4+5L/1000)um TTL激光及可选5X镜头)
| 英制单位 | 公制单位 |
测量范围(Summit 450) | 18" 乘18"乘6" | 450乘450乘150mm |
测量范围(Summit 600) | 18" 乘24"乘6" | 450乘600乘150mm |
测量范围(Summit 800) | 30" 乘31"乘6" | 760乘800乘150mm |
尺寸(Summit 450/600) | 40" 乘65乘76" | 1016 乘 1650 乘 1930mm |
尺寸(Summit 800) | 56" 乘74.2乘76" | 1422乘 1884乘 1930mm |
负载能力 | 50kg |
分辨率 | 0.1um (可选 0.04umX-Y) |
光学 | 双重放大 (物镜X) |
| 低 | 0.8 | 1.0 | 2.5 | 5.0 | 10.0 | 25.0 |
| 高 | 3.2 | 4.0 | 10.0 | 20.0 | 40.0 | 100.0 |
标准物镜 | 2.5X |
可选物镜 | 0.8X,1.0X,5X,10X |
照明 | LED 背光,LED 同轴面光 |
可选特征 | 多色可编程环形光源 |
| Ronchi 栅格自动ju jiao |
| TTL激光 |
| 光谱探针 |
| 旋转工作台 |
| 兆像素数码相机 |
| 高速测量和连续图像获取 |
特征:
-测量范围:450 乘 450 乘 150 mm或450 乘 600 乘150 mm
- 50公斤承载力
-亚微米的光栅尺分辨率
-平台移动速度X-Y:200 mm/秒; Z:100 mm/秒
-可选的X-Y无阻力线性马达驱动,平台速度400 mm/秒
-误差映射:在XY平面非线性二维纠错
-双重放大光学系统,固定镜头,内部放大1-4倍
-可编程LED平台背光及同轴表面光照明
-可编程多色(红、蓝、绿、复合白色)环形灯(PRL)选项
- TTL激光选项,具有自动ju jiao和扫描功能
-三角和共焦激光位移传感器选项
- SpectraProbeTM高分辨率彩色传感器选项
-先进的图像处理性能,快速、精确、稳健
-双通道,数字式,1.4兆像素的单色相机; 4:1的比例
-次像素精度:1/10 - 1/50 pixel
-独立的Anthro Cart Operator工作站,90 x 90 x128 cm;40kg
-可选配一体式可调节高度的工作站活动臂及平台,上可放置平板显示器、键盘鼠标及周边设备
-强大的测量软件和数据分析工具可供选择
-平均无故障工作时间MTBF ≥ 8,000小时
Summit的应用范围包括:
半导体/电子
PCB板与Stencil
光罩
引线框,引线接合,柔性线路板,连接器
SMT元件贴装
锡膏/环氧数脂胶点
xin片载体和托盒
喷墨打印机墨盒
数据存储
磁盘介质基板
滑块和悬臂组(HGA)
Wafer carriers and row bar pallets
精密注塑和机加工件
模具和刀具
医疗设备
燃料喷射部件
手表组件