详细说明
宽广的温度范围，从 -100°C 到 500°C
无须更换检测器或炉体， LFA467 HyperFlash在同一台仪器上可实现 -100°C 到 500°C 的宽广温度范围。加上目前市场上种类最丰富的可选配件，开创了热物性测量的新天地。
进样器附有 16 个样品位，样品容纳量为原来的 4 倍LFA 467 HyperFlash 的一大优势是可以在整个温度范围内连续测量 16 个样品，大大缩短了测量时间。液氮补给系统可以实现对检测器与炉体的自动补充液氮，保证仪器全天候不间断测量。
| | ZoomOptics 得到的测量结果更准确，减少测量误差专利技术的 ZoomOptics 优化了检测器的检测范围，从而消除了孔径光阑的影响。显著增加了测量结果的精度。极高的采样频率（2MHz），特别适合于薄膜样品薄膜样品及高导热材料需要快速的数据采集速率，来精确地记录样品上表面的升温过程。LFA 467 HyperFlash 可以提供 2MHz 的数据采集速率，这是 LFA 系统前所未有的。LFA 467 HyperFlash® - 技术参数温度范围:-100°C ... 500°C，单一炉体非接触式测量，IR 检测器检测样品上表面升温过程数据采集速率:高达 2MHz（包括半升温信号检测，及 pulse mapping 技术）-- 对于高导热及薄膜样品，采样时间（约为半升温时间 10 倍）可低至 1ms，样品厚度最薄可至 0.01 mm 以下（取决于具体的导热系数）热扩散系数测量范围:0.01 mm2/s ... 2000 mm2/s导热系数测量范围:< 0.1 W/(mK) ... 4000 W/(mK)样品尺寸:- 直径 6 mm ... 25.4 mm（包括方形样品）- 厚度 0.01 mm ... 6 mm（样品的厚度要求取决于不同样品的导热性能）16 个样品位的自动进样器20 多种支架类型丰富的测量模式，适应各种类型的样品。如各向异性材料，多层模式分析，薄膜，纤维，液体，膏状物，粉末，熔融金属，压力下的测试，等等。Zoom Optics 优化检测器的检测范围（专利技术）专利保护的 pulse mapping 技术（US 7038209, US 20040079886, DE 10242741 – approximation of the pulse），用于脉冲宽度修正，可以提高比热值的测量精度气氛:惰性、氧化性、静态/动态、负压遵从如下标准: ASTM E1461, ASTM E2585, DIN EN 821-2, DIN 30905, ISO 22007-4, ISO 18755, ISO 13826; DIN EN 1159-2, 等. |