详细说明
MC008-LG-1型 立式光学计(光学比较仪)是一种采用量块或标准零件与试件相比较的方式测量物体外形尺寸的仪器。主要用于五等精度量块，一级精度柱型规及各种圆柱形，球形，线形等物体的直径或板形物体的厚度的精密测量，对被测件作微小位移测量。亦可用来控制精密零件的加工。
技术规格:
| *被测件最大长度 | 180 mm |
| *直接测量范围 | ±0.01 mm |
| *分划板分度值 | 1 μm |
| 总放大倍数 | 1000 x |
| *测量压力 | (2±0.25) N |
| 示值变动性 | 0.1μm |
| *最大不准确度 | ±0.25μm |
| *读数方式 | MicroCre光学分划板读数 |
| 仪器体积 | 345×165×415 mm |
| 仪器重量 | 30 kg |
| 标准配件 | 可调带筋园台可调园平台带筋固定方台平面测帽平面测帽小球面测帽刃形测帽 |
| 最大测量误差 | ±(0.45+L/100) μm L是被测长度,以mm计 |