德国菲希尔XAN® 系列仪器特别适合测量和分析超薄镀层，即使镀层成分复杂或含量微小也都能准确测量。该系列产品简单易用且性价比高，因此在同类产品中脱颖而出。

　　特性:

　　·操作简单且性价比高。

　　·自下而上进行测量，从而快速、简便地定位样品

　　·广泛适用:为各个行业的典型需求量身定制了多种型号

　　·以非破坏性方式进行镀层厚度测量与元素分析

　　·带有高性能 X 射线管和高灵敏度的硅漂移探测器 (SDD)的机型，可对极薄镀层及微量成分进行精确测量

　　应用:

　　镀层厚度测量

　　<厚度仅为几纳米的贵金属镀层

　　<时尚首饰:对代镍镀层等新工艺多镀层系统进行分析

　　<抗磨损镀层，如:对化学镍镀层的厚度及磷含量进行测量

　　<测试纳米级基础金属化层（凸点下金属化层，UBM）

　　材料分析

　　<测定黄金首饰等贵金属、手表和硬币的成分与纯度

　　<专业实验室、检测机构以及科研院校中常规材料分析

　　<依据 RoHS、WEEE、CPSIA 以及其他准则，检测电子元件、包装以及消费品中不合要求的物质（例如重金属）

　　<功能性镀层的成分，如测定化学镍中的磷含量