产品简介:英国abi AT256集成电路测试仪可测试256管脚元器件;全类型,全品牌检测各种类型的元器件,好坏对比测试方法:1)元器件之间对比;2)存储对比测试;丰富可试的测试条件,测试条件:电压,电阻,频率,测试波形可调并组合条件测试;判定对比标准可根据客户需求设定;

　　英国abi AT256集成电路测试仪可达测试管脚数:256

　　测试适用范围:

　　元器件测试-适用于所有类型的集成电路的测试和元器件的筛选测试

　　电路板测试-适用各种电路板的检测（附加测试电缆线和各种封装的测试夹）

　　英国abi AT256集成电路测试仪测试原理（V-I曲线测试）:

　　对元器件的每个管脚施加一个安全的低功率的扫描驱动信号，产生一个阻抗特征图，以备对比和存储。

　　被测器件和数据库中标准动态阻抗图相比对，阻抗图的差异大小即可判断元件的好坏和可用性。

　　测试信号可设定的参数包括: 电压、波形、源电阻、频率。可根据需要进行调整以便得到准确的信息。

　　集成电路测试操作如此简单:

　　1.从数据库选择要测试的集成电路型号.

　　2.将集成电路插入测试座.

　　3.执行测试

　　4.得到PASS或FAIL的测试结果.

　　AT256内图1

　　商品输入检验

　　不需要电子专业知识.

　　适用于所有集成电路/封装件.及各种类型电路板

　　灵活、好安装、宜操作.

　　测试结果直接: PASS或FAIL.

　　软件可设定各种测试条件.

　　可提供完整的元件测试分析报告.

　　适合不同封装形式的元件:

　　-双列插脚(DIL)

　　-小型封装集成集成电路(SOIC)

　　-小型封装(SSOP, TSOP)

　　-塑料无引线芯片载体封装(PLCC)

　　-四方扁平封装(TQFP, PQFP, LQFP)

　　-球门阵列封装(BGA)

　　注意: AT系列不受限于只能测试电子集成电路, 也可用于整个模块。

　　测试通道

　　提供多达256个测试通道, 可设定用于不同的元器件封装。

　　用两种模式扫瞄:

　　•一般模式: 扫描信号是以一固定管脚为参考点, 测试信号施加到待测元器件上。

　　•矩阵模式: 扫描信号是以元器件的各个管脚为参考点, 测试信号循环组合施加到待测元器件上。

　　AT256内图2

　　数据库

　　用户可根据自己的需要，用性能完好的器件创建ic的测试数据库，以备日后测试使用。创建一个测试库仅需要数秒的操作时间，操作十分简单容易。

　　结果比较型式:

　　将数据库中的IC与待测ic的V-I曲线相比较, 即可判定被测IC的好坏,提供两种比较型式:

　　•与数据库中元件比较: 被测IC的V-I曲线与数据库中的相同型号的IC比较

　　• 被测IC之间比较比较: 多个集成电路的之间的V-I曲线相比较。

　　软件- 灵活性

　　1)软件提供测试库图形化修改功能，以方便用户制作不同新封装形式器件的测试库,

　　2)软件可以自定义各个通道的使用，一台机器可以同时检测多个器件

　　报告

　　1）软件可产生一详细的测量报告, 包含集成电路相片。这份报告可用于深入分析好坏集成电路的差异具体原因。

　　2）用户可处理集成电路的各种信息; 集成电路的动态阻抗图可储存在pc中，并可随时读出, 以与新的扫瞄阻抗图作比较。

　　3）为了今后使用方便, 可在集成电路的存储数据文件夹内增加其它信息, 包括:相片、PDF文件或甚至文字与电子表格。

　　AT256内图3

　　针印(PinPrint)动态阻抗详细分析元件的管脚.

　　AT256内图4

　　定制化的报告(PinPrint).

　　转接器

　　标准型: 用于SOIC、SSOP、TSOP及PLCC封装; 也有提供AT系列校正工具组。

　　AT256内图5

　　通用型:

　　用于SOIC及PLCC封装; 一个转接器即适用于各种芯片尺寸, 测试有20、28、32、44、52、68、84脚的集成电路。

　　AT256内图6

　　一个转接器即适用于测试宽0.15”～0.6”达44脚的集成电路。

　　客制型:

　　可订制各种封装的转接器, 包括: BGA、QFP; 请进一步洽询, 以设计符合您需求的转接器。

　　AT256内图7

　　BGA插座转接器

　　技术规格:

　　扫描测试波形:正弦波,锯齿波，三角波

　　扫描测试频率:6种频率供选择:100Hz,200Hz,500Hz,1KHz,2KHz,5KHz

　　扫描电压(Vs):4种峰值电压选择:-20~+20V 步进0.1V

　　扫描源电阻(Rs):3种电阻供选择:1kΩ, 10kΩ,100kΩ

　　扫描通道:AT256通道数量:256通道

　　显示模式:VI曲线图

　　扫描模式:手动或连续, 或自行设定扫描次数

　　扫描方式:

　　一般模式:扫描信号是以一固定管脚为参考点,测试信号施加到待测元器件上.

　　矩阵模式:扫描信号是以元器件的各个管脚为参考点,测试信号循环组合施加到待测元器件上.

　　电脑连接:USB接口，连接电脑使用,标准配置含上位机软件

　　适合不同封装形式的元件:

　　-双列插脚(DIL)

　　-小型封装集成集成电路(SOIC)

　　-小型封装(SSOP, TSOP)

　　-塑料无引线芯片载体封装(PLCC)

　　-四方扁平封装(TQFP, PQFP, LQFP)

　　-球门阵列封装(BGA)

　　注意: AT系列不受限于只能测试电子集成电路, 也可用于整个模块及电路板。

　　测试报告:可自行编辑测试报告

　　功率需求:线路电压:85～264VAC，频率:47～63Hz，功率:150W

　　尺寸/重量:尺寸:27x25x9cm;重量:3.5kg

　　操作温度.湿度:温度:10°C～30°C湿度: 20～80% RH。

　　保修期:一年

　　认证:CE认证& RoHS合格。

　　仪器用途

　　假冒器件检测

　　• 可由仓库部门在收到集成电路时进行检查, 以确保收到的集成电路是真品; 商品输入部门的员工不需要电子知识即可操作这个系统。

　　• 检查可能伪造的集成电路, 并分析供货商的测试数据。用户可应用完整的报告, 确定问题的来源。

　　翻新及二手器件检测仪

　　能快速简单检测出翻新IC及集成电路测试的解决方案。

　　透过精密的PinPrint(针印)测试算法则,能够辨识出有不同内部结构或根本没有结构, 甚至是由不同厂家所制造的集成电路。

　　他就像您的电子守卫, 守卫在您生产设备之入口, 不受伪造元器件之渗透伤害。

　　何谓伪造翻新集成电路

　　Counterfeit [koun-ter-fit](形容词): 意思是仿造, 以便虚伪不实地假装是真品。

　　制造膺品(仿冒品)集成电路是非法的, 会出现(仿冒品)是因为电子零件的可转让。全球任何需要制造PCB集成电路的公司都在承担这个风险, 也或许曾经收到过大批的”不良”元器件。

　　仿冒可透过各种过程达成: 在极不可靠的过程里, 把集成电路从报废/弃置的电路板中取出, 接着作表面处理维修; 再加上伪相关信息于集成电路上, 包括制造厂商标, 然后拿来当作真品卖给粗心的买家。另一个方法则是真的凭正规的制造能力, 在标准工时以外的大夜班(ghost shift)生产集成电路, 然而, 以那种方式生产的芯片含有许多制造上的瑕疵, 有些甚至没有硅片(silicon die)。

　　很不幸地, 得一直等到把它们放在PCB上, 在生产团队对完整的组装进行初次测试时, 才可能鉴别到仿造的集成电路。如此将导致昂贵的过程－辨识问题集成电路、再把它们从生产中的所有电路板上拿掉。在某些情况下, 甚至得把整批成品回收回工厂。

　　5年来, 仿冒集成电路的举发呈倍数地增加; 2008年, 仿冒IC的出口量占全球贸易总额的8%以上, 相当于损失60亿的销售额。

　　北京金三航科技发展有限公司(英国ABI技术服务中心）提供:

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