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　　判定IC芯片引脚氧化及处理方法的内容就到这里，关于ic芯片引脚的氧化处理方法暂时还没有的解决方法，下面的方法自网络摘抄:首先要判断ic氧化的严重程度，只要IC引脚或锡球没有发黑，都可以用专门配制的去除氧化。具体步骤:把氧化的IC放入盛放的容器内，5-10秒后取出烘干即可；如氧化比较严重，须重复上述步骤，直至彻底去掉氧化层。但如果IC引脚或锡球变黑，就不能用上述方式去氧化了，外引脚IC要把原有镀锡层退掉后重新电镀，BGA要重新植球才能解决。希望上面的内容能够帮助到您。

　　负载电容是指在电路中跨接晶体两端的总的外界有效电容。他是一个测试条件，也是一个使用条件。应用时一般在给出负载电容值附近调整可以得到频率。此电容的大小主要影响负载谐振频率和等效负载谐振电阻。一般情况下，增大负载电容会使振荡频率下降，而减小负载电容会使振荡频率升高。负载电容是指晶振的两条引线连接IC块内部及外部有效电容之和，可看作晶振片在电路中串接电容。b、环标注法使用多，现举例如下:四环电阻五环电阻(精密电阻)电阻的标位置和倍率关系如下表所示:四环电阻读法匹配电容-----负载电容是指晶振要正常震荡所需要的电容。一般外接电容，是为了使晶振两端的等效电容等于或接近负载电容。要求高的场合还要考虑ic输入端的对地电容。一般晶振两端所接电容是所要求的负载电容的两倍。这样并联起来就接近负载电容了。

　　要由于测量造成的误差。由于万用表表头内阻不同或不同直流电压档会造成误差。一般原理上所标的直流电压都以测试仪表的内阻大于20KΩ/V进行测试的。内阻小于20KΩ/V的万用表进行测试时，将会使被测结果低于原来所标的电压。另外，还应注意不同电压档上所测的电压会有差别，尤其用大量程档，读数偏差影响更显着。要注意由于外围电路可变元件引起的引脚电压变化。当测量出的电压与标称电压不符时可能因为个别引脚或与该引脚相关的外围电路，连接的是一个阻值可变的电位器或者是开关(如音量电位器、亮度、对比度、录像、快进、快倒、录放开关、音频调幅开关等)。这些电位器和开关所处的位置不同，引脚电压会有明显不同，所以当出现某一引脚电压不符时，要考虑引脚或与该引脚相关联的电位器和开关的位置变化，可旋动或拔动开头看引脚电压能否在标称值附近。