Mikron M315X-HT黑体校准源满足红外焦平面阵列检测器，热成像仪，和FLIR系统在投影场景和现场应用测试在需要更高的温度的严格参数。

　　M315X-HT黑体源通过精密加热元件电阻加热，以提供均匀的温度分布。两件式系统由控制器模块和用于发射源的单独外壳组成。

　　发射器源温度控制由精密数字PID控制器执行，该控制器安装在7英寸（180毫米）高19英寸机架安装式机箱中。

　　产品特点

　　高发射率，具有稳定的稳定性和均匀性

　　带有精确加热元件的均匀温度分布

　　配有可追溯至NIST的校准证书

　　RS232（标准）或RS485串行通讯

　　稳定的RTD确保系统的长期温度稳定性

　　技术参数

　　温度范围

　　环境温度30至600°C（86至1112°F）

　　温度不确定度

　　T <100°C时为±1°C，T = 600

　　°C时为±2°C（通过 辐射测量进行的精度校准），已经包括了发射率和传输标准的不确定性

　　温度分辨率

　　0.1°摄氏度

　　稳定性

　　在静止空气环境中

　　为±0.2°C，提供稳定的交流电源电压，并在出口或发射板上流过的空气少

　　源不均匀

　　见数据表

　　加热发射极形状

　　平板

　　出口直径

　　M315X4HT:101 x 101毫米（4 x 4英寸）

　　M315X6HT:152 x 152毫米（6 x 6英寸）

　　M315X8HT:203 x 203毫米（8 x 8英寸）

　　M315X12HT:305 x 305毫米（12 x 12英寸）

　　发射率

　　在8至14μm时〜1.00的有效发射率

　　说明书中提供了光谱发射率图

　　标准校准方法

　　辐射度

　　温度感应器

　　精密铂RTD

　　热身时间

　　<30分钟的环境温度至500°C