Mikron M315X系列黑体校准源满足红外焦平面阵列检测器，热成像，和FLIR系统在投影场景和现场应用测试的严格参数。

　　M315X系列校准源由精密加热元件电阻加热，以提供均匀的温度分布。两件式系统由控制器模块和用于发射源的单独外壳组成。 两根连接电缆可将黑体源与控制器之间的距离分隔为3.6 m（12英尺）。

　　满足红外焦平面阵列探测器，热成像和FLIR系统测试在投影场景和野外应用中的严格参数

　　实现高精度和高分辨率

　　确保温度分布均匀

　　用精密数字PID控制器控制发射源温度

　　保证您的校准质量

　　特征

　　出色的通用校准

　　大光圈

　　通过精密加热元件电阻加热

　　RS232（标准）或RS485（可选）串行通讯输出

　　高发射率和均匀性

　　技术参数

　　温度范围

　　环境温度+5至400°C（+9至752°F）

　　温度不确定度

　　在T <100°C时为±1°C至T = 400°C时为8至14μm时

　　在T = 400°C时为±1°C，已经包括了发射率和传输标准的不确定度

　　温度分辨率

　　0.01°摄氏度

　　出口直径

　　M315X4:101 x 101毫米（4 x 4英寸）

　　M315X6:152 x 152毫米（6 x 6英寸）

　　发射率

　　1.00在8至14μm时有效

　　光谱发射率图在使用手册中提供

　　标准校准方法

　　辐射度

　　温度感应器

　　精密铂RTD 1/3 DIN

　　热身时间

　　300°C下约30分钟