型号规格 | JQ-B240 |
测试系统 | 测试模组/成像模组 / 暗室模组 |
检测时间 (S) | 1~5S |
检测对象 | 晶体硅组件;单晶/多晶 |
检测方式 | 白天暗室检测/夜晚支架上组件直接检测 |
可判断缺陷类型 | 隐裂/断栅/黑心/黑边/低效率片/烧结网纹/碎片/边缘过刻/材料缺陷 |
成像系统 | 分辨率:2400W, |
自动对焦 |
内置无线传输模组/外接远程无线wifi |
暗室系统 | 暗室帐篷 |
面积(mm):2200*2200*1300(可定制) |
上电电源(可选) | 直流稳压电源 60V10A(标配)便携式发电机(可选)多组件供电电源(可选) |
上电模式 | 手动连接组件上电 |