韩国XRF-2000系列X-RAY膜厚仪

　　多点自动测量(方便操作人员准确快捷检测样品）

　　测量样品高度不超过3cm(亦有10CM可选)

　　镀层厚度测试范围:0.03－35um

　　可测试单层，双层，多层及合金镀层厚度

　　(单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀锌镍合金等)

　　(双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再银,铁上镀铜再镀镍等)

　　多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍,再镀金.铁是镀铜镀镍再镀银等)

　　合金镀层:如铁上镀锡铜,等

　　测量时间:10－30秒

　　精度控制:

　　第一层:±5%以内

　　第二层:±8%以内

　　第三层:±12%以内

　　XRF-2000镀层测厚仪共分三种型号

　　不同型号各种功能一样

　　机箱容纳样品大小有以下不同要求

　　XRF-2000镀层测厚仪型号介绍

　　XRF-2000镀层测厚仪H型:测量样品高度不超过10cm

　　XRF-2000电镀测厚仪L型:测量样品高度不超过3cm

　　XRF-2000电镀膜厚仪PCB型:测量样品高度不超3cm(开放式设计,可检测大型样品

　　韩国先锋MicorPionnerXRF-2000镀层测厚仪,

　　提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱超值

　　同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果

　　多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台，

　　可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的首选。可测量各类金属层、合金层厚度等。

　　可测元素范围:钛（Ti）–铀（U）原子序22–92

　　准直器:固定种类大小:可选圆形0.10.20.30.4mm方型1×0.4mm

　　自动种类大小:可选圆形0.10.20.30.4mm方型0.05×0.4mm

　　电脑系统:彩色打印机

　　综合性能:镀层分析定性分析定量分析镀液分析统计功能