宿迁防静电三辊闸方案

名称:宿迁防静电三辊闸方案

供应商:苏州捷德信息科技有限公司

价格:面议

最小起订量:1/台

地址:苏州高新区鹿山路369号国家环保产业园28幢

手机:13771714371

联系人:唐玉萍 (请说在中科商务网上看到)

产品编号:223791447

更新时间:2026-01-22

发布者IP:222.93.77.132

详细说明
产品参数
品牌:捷德科技
产品:人脸识别门禁、门禁系统、防静电ESD翼闸、小区智慧移门
范围:全国
是否定制:否
是否进口:否
通关方式:支持指纹、人脸识别
产品优势
产品特点: 捷德科技有限公司是一家集研发、制造、系统集成和服务于一体的高新技术企业,主要经营产品通道:ESD防静电三辊闸、摆闸、翼闸、挡闸、全高转闸、速通门、防静电闸机,ESD静电闸机,工地三辊闸,工地LED联动闸机,集成电子门票系统、门禁考勤系统、健康码测温人脸机、智慧小区平移门、幼儿园微信推送系统......
服务特点: 捷德秉承“诚信、务实、创新、责任”的经营理念,经过多年的艰苦创业,依靠专业的技术水平、雄厚的整体实力、 高效完善的管理体制,成功地跻身于国内一卡通系统集成及软件开发领域,成国内较具影响力的一家智能化通道供应商;

  宿迁防静电三辊闸方案

  13.仪器自带语音功能,语音提示:请测试,测试合格请通过,测试失败禁止通行等14.总之,本款仪器可以满足大多数客户的需求,如有其它不满足部分,可联系苏州市艾斯顿净化设备有限公司陈经理,可帮您开发相关功能.或者有静电方面的疑惑,均可找我司技术人员解答。

  在电子芯片车间,工人身上未消除的静电可能击穿精密元件,导致数万甚至数十万的损失;在新能源电池厂房,静电火花若接触电解液,可能引发燃爆风险;在实验室,非授权人员误入静电敏感区域,不仅可能破坏实验数据,更可能危及人身。

  工作温度:-10℃~50℃ 工作湿度:10%~90%

  功耗:Max. 24 W核心优势:高识别精度(99.99%)、速响应(与其他安防系统的联动集成

  它不仅仅是独立的门禁,更是工厂整体安防与生产管理系统的一环。可与视频监控联动:当有人测试未通过强行闯入时,自动触发摄像头抓拍并录像。可与消防系统联动:发生火警时,门禁自动释放,确保疏散通道畅通。还可与生产设备联动:在SMT贴片线等工位,设置只有从指定防静电门禁通道进入的人员,其操作权限才被激活,否则设备无法启动,实现更深层的绑定管理。

  ◦ 支持远程升级、TCP/IP 通讯及与门禁系统联动。二、静电门禁 ESD 控制器

  核心功能:实时检测人体静电阻值,控制通道闸机开合,符合 ANSI/ESD S20.20 标准。

  • 检测能力:

  ◦ 同时测试手腕带、左鞋、右鞋是否合格,支持单线 / 双线手腕带及防静电鞋独立检测。

  ◦ 测试范围:手腕带 100KΩ-10GΩ,防静电鞋 100KΩ-1000MΩ,支持用户自定义上下限。

  读写卡距离:0~10CM,支持非接触式 IC 卡感应通讯接口:标准 USB 通讯协议,即插即用无需额外驱动 系统兼容性:全面支持 WinXP/Win7/Win8/Win10 操作系统

  在操作便利性上,设备通过 USB 直连 PC 机实现数据交互,配合广泛的系统支持,可无缝集成至现有门禁管理平台。其 0~10CM 的读写距离设计,既保障了操作灵活性,又通过非接触式感应降低了卡片与设备的物理损耗,符合工业级设备的耐用性要求。上述特性共同构成了 ESD 门禁系统用户身份认环节的硬件基础。

  宿迁防静电三辊闸方案

  静电放电及其危害性ESD的意思简单的说就是“静电释放”的意,它是英文:Electro-Static discharge 的缩写,即"静电放电"的意思。静电是一种客观的自然现象,产生的方式多种,如接触、摩擦、感应、传导、剥离带电、离子溅射、其他:断裂起电(分裂起电,破碎起电),热电效应(冷冻起电),压电效应 ,电解带电 ,溅泼起等。静电的特点是高电压、低电量、小电流和作用时间短的特点。人体自身的动作或与其他物体的接触,分离,摩擦或感应等因素,可以产生几千伏甚万伏的静电。静电放电引起的组件击穿损害是电子工业普遍、严重的静电危害,它分硬击穿和软击穿.硬击穿是一次性造成元器件介质击穿、烧毁或永久性失效;软击穿则是造成器件的性能劣化或参数下降。而磨擦起电和人体静电是电子、微电子工业中的两大危害源。因此,在电子工业生产过程中每一道工序都要静电放电造成的击穿而造成大量报废,美国每年因静电放电致使半导体器件的损失达100亿美元,英国达20亿美元,日本的微电子产品报废损失中有70%是因静电放电造成的,更可怕的是有些超大规模集成电路在出厂时已被部分伤击伤,但未断开,而造成产品良率降低及使用寿命缩短,甚或在航天或重大领域则可能造成不可挽回的事故,所以ESD是在微电子应用领域中严重的问题。