详细说明
半导体高频测试针俗称“双头弹簧針”,在某些领域又被称为“BGA双头針”,简称“高频针”。
产品由弹簧、针管、针头三部分组成。
常用的针头型有:B、J、J1、U、U1、D、T等,体积细小,测试精度要求较高,主要用于半导体测试及通讯设备频率测试领域。
如:手机、对讲机、电脑、广播等通讯频率测试。
025系列目前只有一种量产型号,产品外径0.25mm,总长5.7mm,弹力0.5。
具体参数请见下图。
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