详细说明
高频测量3GHz，对应6种尺寸的SMD
< IM7580系列专用SMD测试治具
< 2种设备指南，可对应6种尺寸的SMD
< 对应SMD尺寸※1 0603, 1005, 1608, 2012, 3216, 3225
※1:JIS单位mm，相当于EIA0201～EIA1210尺寸
IM7580系列上使用测试治具IM9201时，需要另售的测试治具台IM9200和转换器（3.5mm-7mm）IM9906。测试治具和校正器的组合请咨询各分支机构。
使用IM9201进行LCR测量
IM7580系列5种机型的测量频率覆盖了1MHz〜3GHz。
和用于6种尺寸SMD的测试治具IM9201组合使用，能够简单准确的测量样品。基本参数
| 可用频率范围 | DC～3 GHz |
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| 可测样品尺寸 | 0603, 1005, 1608, 2012, 3216, 3225 (JIS单位mm, 相当于EIA 0201～EIA 1210尺寸) |
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| 电极结构 | 底部电极 |
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| 最大输入电压 | ±42 Vpeak (AC+DC) |
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| 适用机型 | IM7580, IM7580A, IM7581, IM7583, IM7585, IM7587※※测试频率高达3GHz，近日发售 |
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| 追加误差 | 阻抗: ±Ze [%]相位 : ±0.58 × Ze [°]Ze = Ae + (Zse / Zx + Yoe × Zx) ×100Zx : 阻抗测量值 [Ω]Ae:4 × f2 [%]Zse : (100 + 500 × f) /1000 [Ω]Yoe : (10 + 100 × f) /1000000 [S]f [GHz] |
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