产品应用:HAST高压加速老化试验的目的

　　是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。

　　用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。

　　随着半导体可靠性的提高，目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间，采用了最新的压力蒸煮锅试验方法。压力蒸煮锅试验方法主要分成两种类型:即PCT和USPCT(HAST) 现在压力蒸煮锅试验作为湿热加速试验被IEC(国际电工委员会)所标准化。 注意事项:USPCT现在称为HAST(高度加速应力试验)。

　　HAST高压加速老化试验机设备特点:

　　1.HAST高压加速老化试验机采用最新优化设计,美观大方，做工精细。

　　2.具备特制的试样架免去繁杂的接线作业。

　　3.大容量水箱,试验时间长,全自动补水，试验不中断。

　　4.与试样数量相吻合的试样信号施加端子。

　　5.采用7寸真彩式触摸屏，拥有250组12500段程序，具有USB曲线数据下载功能，RS-485通讯接口。

　　6.采用高效真空泵，使箱内达到最佳纯净饱和蒸汽状态。

　　7.一体成型硅胶门垫圈，气密度良好，且使用寿命长。

　　8.多项安全保护措施,故障报警显示及故障原因和排除方法功能显示。

　　9.可根据客户不同需求定制专用HAST试验设备（如:HAST内箱尺寸及偏压可满足客户不同的测试需要）

　　10.HAST高压加速老化试验机可根据客户产品定制专用产品架。

　　HAST高压加速老化试验机规格参数