Thick800X荧光光谱仪主要针对大件部件的镀层厚度和含量的无损、快速测定，它不同于EDX600B的下照式和封闭样品腔的设计，而是采用上照式，通过三维的移动和激光定位，实现对尺寸范围较大部件进行镀层厚度和含量的点测量

　　应用领域:黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测；金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；贵金属加工和首饰加工行业；银行、首饰销售和检测机构；电镀行业。

　　技术指标:

　　元素分析范围:从K到U

　　一次性可同时分析多层镀层

　　分析厚度检测出限最高达0.01um

　　同时可分析多达5层以上镀层

　　相互独立的基体效应校正模型，最先进厚度分析方法

　　多次测量重复性最高可达0.01um

　　长期工作稳定性小于0.1um（5um左右单镀层样品）

　　温度适应范围:15℃~30℃

　　输出电压220±5V/50HZ（建议配置交流净化稳压电源）

　　配置

　　开放式样品腔

　　二维移动样品平台

　　探测器和X光管上下移动可实现三维移动

　　双激光定位装置

　　准直器自动切换装置

　　玻璃屏蔽罩

　　正比计数盒探测器

　　信号检测电子电路

　　高低压电源

　　X光管

　　计算机及喷墨打印机

　　样品腔尺寸:517mm×352mm×150mm

　　外型尺寸:648mm×490mm×544mm