DDR2内存条测试治具

　　滚珠卡扣专利结构，翻盖使用零磨损

　　超溥式金线导电胶，不烧焊盘和内存颗粒

　　弹簧过压保护，延长导电胶寿命

　　卡扣压力自适应，能兼容不同厚度的芯片

　　限位框可更换，兼容不同大小的内存颗粒

　　参数:

　　产品型号:DDR2内存颗粒测试夹具

　　外壳材质:铝合金, 合金

　　导电体:金线导电胶( GCR )

　　绝缘电阻 :1000 mΩ? Min,At DC 500V

　　耐电压:700 AC / 1Minute

　　接触阻抗:<30 mΩ

　　机械寿命:150，000 Times

　　工作温度:From -40℃ to + 155℃

　　特点:

　　压块浮动结构，延长导电胶寿命，适用不同厚度的IC

　　通用性高，只需换限位框，即可测试尺寸不同的颗粒（宽度≤13MM 长度≤16MM）

　　金手指镀金厚度是普通PCB的10倍（30 μ m），保证测试治具有更好的导通和耐磨性

　　金线导电胶减短IC与PCB之间数据传输距离，测试更稳定，最高频率可达2GHZ，且更换方便，成本更低全新设计更薄，不需转接槽可直接插到测试板上进行测试，频率衰减更低，减少误测.

　　与同类治具比较:

　　项次项目名称 斯纳达 公司 “A” 备注

　　1治具价格 低 高

　　2治具磨损 低 高 专利结构，除PCBA与导电胶2个耗材外，其他一律保修1年

　　3导电胶过压保护 有 无 浮动压块，压力自适应，导电胶寿命延长1倍以上

　　4不同厚度芯片的兼容性 好 不好 浮动压块，压力自适应，兼容不同厚度的颗粒测试

　　5售后服务 好 一般 本地支持，服务响应速度快