纯铝成分检测

　　上海天梯检测提供金属和非金属材料的高纯度成分分析

　　一、仪器类型

　　1、ICP-AES/ICP-MS电感耦合等离子体光谱分析仪

　　2、GDMS 辉光放电质谱仪

　　二、业务类型

　　1、单样分析:高纯材料纯度测定、高纯杂质分析

　　2、批量分析:签定长期协议，协助企业长期进行来料控制

　　三、选择适合的检测方式

　　根据产品材质，数据用途，选择不同的测试要求:

　　1、ICP

　　?0?2 此类型适用于有固定牌号或指定杂质元素的情况下分析，一般分析元素不是很多。测试前期需要制样，某些产品制样复杂。消耗产品较多。对样品是破坏性的。

　　2、GDMS

　　适用于所有高纯固体分析，一次性做出所有杂质的含量，对于粉末或丝状样品也需要制样。仅损耗产品表面约50微米。

　　以上两种方式，精确度均没有问题，根据客户的要求，可灵活选择检测方式。

　　辉光放电质谱法（glow discharge mass spectrometry，GDMS）是利用辉光放电源作为离子源与质谱仪器联接进行质谱测定的一种分 析方法。GDMS在多个学科领域均获得重要应用。在材料科学领域， GDMS成为反应性和非反应性等离子体沉积过程的控制和表征的工 具。GDMS已成为无机固体材料，尤其是高纯材料杂质成分分析的强 有力方法。

　　GDMS辉光放电质谱仪

　　利用阴极溅射。辉光放电形成的正离子轰击样品，能量从几百到几千电子伏的正的氩离子被加速到样品表面。导致样品上层被腐蚀或雾化。在质谱仪经过质量分离后测量从溅射区域产生的分析离子，经RSF转化成浓度。

　　GDMS优点

　　能够探测到每种杂质的化学态的全部浓度，不需要通过化学方法。可以一次性测出全部的73种元素的含量，可以精度到小数点8位。检测成本低

　　GDMS缺点

　　H、C、O、N元素的探测极限较差

　　GDMS适用范围

　　石墨 碳 硅 碳化硅 氧化物 陶瓷 等

　　SIMS基本原理

　　样品由氧或者铯源的聚焦一次离子束溅射，形成的二次离子被加速使其脱离样品表面，由静电分析器进行能量分离和由电磁质量分析器基于质荷比进行质量分离。

　　SIMS优点

　　能够探测到每种杂质的化学态和电子态的全部浓度，不需要通过化学方法。涵盖周期表所有元素。包括H、C、O、N

　　SIMS缺点

　　特定元素分析，只能分析一到三个元素，多元素分析成本高

　　SIMS适用范围

　　涵盖周期表所有元素。包括H、C、O、N等大气元素