JDS RM3750回损测试仪可采用多种波长进行插入损耗/回波损耗的精确测量，广泛应用于电信网，CATV，WAN中的连接器和元件的生产测量. 产品特性**单模**◆波长范围:1310，1480，1550，1625，OR 1650 ±10nm ◆传感器类型:2nm InGaAs◆动态范围: to -75 dB 0 to-80 dBm ◆绝对精度:±1.0 dB3.4±25dBm(typical)at-10dBBm6.7◆相对精度:±0.4 dB4 ±0.05dB(<5 dB Loss)±0.15dB<5 dB Loss)6◆输出端口:RS 232◆输入电压:100-240V AC,50-60 Hz◆耗电量:30vA maximumFC,SC◆显示屏:16-chracter LCD◆尺寸:4 kg◆工作温度:0-40℃◆储存温度:-40-70℃◆湿度范围:maximum 95% RH from 10-40℃**多模**◆波长范围:850 and/or 1310±20nm◆传感器类型:3nm InGaAs◆动态范围: to -75 dB 0 to-60 dBm ◆绝对精度±1.0dB5±0.25dBm(typical)at-10 dBm(7)◆相对精度:±0.7 dB 5 ±0.15 dB7.8◆输出端口:RS 232◆输入电压:100-240V AC,50-60 Hz◆耗电量:30vA maximumFC,SC◆显示屏:16-chracter LCD◆尺寸:4 kg◆工作温度:0-40℃◆储存温度:-40-70℃◆湿度范围:maximum 95% RH from 0-40℃