X荧光光谱仪（EXF7800型嵌入电脑一体型）

　　厂家负责人:尤经理

　　技术指标

　　分析范围:0.1%～99.99%

　　测量时间:30～200秒

　　测量精度:±0.1%

　　测试环境:常温常态

　　分析元素:金Au、银Ag、铂Pt、钯Pd、铑Rh、钌Ru、铜Cu、锌Zn、镍Ni、镉Cd

　　X射线源:X射线光管

　　高压器:4～50Kv

　　分析:多通道模拟

　　操作系统:Windows2000/Me/XP

　　其它规格:

　　测量点尺寸:1～2mm

　　输入电压:100～127或200～240V,50/60Hz

　　最大功率:128W

　　外形尺寸:长500mm*宽500mm*高400mm（最大处）

　　样品室:长400mm×宽:300mm×高:0～90mm样品放大成像系统

　　重量:45kg

　　环境温度:15℃～30℃

　　环境湿度:35%～70%

　　硬件配置

　　光管:Mo靶的X光管风冷(断电无辐射）

　　高压器:4～50KV

　　高低压电源:100～127或200～240V,50/60Hz

　　样品室:长400mm×宽300mm×高0～90mm

　　检测器:固定式半导体封气正比计数器微处理器控制的检测器和读出电路

　　样品放大成像装置:带十字光标红外线定位系统

　　软件:XRF菜单式软件，带硬件参数调整和数据评估及计算

　　预启动稳定系统

　　EXF7800在EXF7200的平台上集成工业级计算机，升级了显示屏幕和电路结构，无需再外接电脑；造型时尚专业，带多节点预启动装置和实时监控系统；带门锁电锁，使得日常管理更便捷；加装自动防辐射泄漏装置，主动性的保证使用人员安全；带电动开盖装置，令测试更轻松。

　　厂家负责人:尤经理