ZEISS高精密测量设计

名称:ZEISS高精密测量设计

供应商:东榕实业有限公司

价格:面议

最小起订量:1/台

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联系人:桂林风 (请说在中科商务网上看到)

产品编号:54691668

更新时间:2021-03-15

发布者IP:113.77.243.197

详细说明

  现场型三坐标1.三轴全包覆式设计 2.可在宽松环境-18到30度环境可达2.9微米空间精度 3.三轴精密导轨传动设计,无须提供气源 4.低耗能仅需700W 5.zeiss玻璃陶瓷光学尺度精密0.2微米 5.扫描测头设计,可单点及连续扫描测量 6.自动探针更换架系统 7.量测不确定度:2.4+L/300微米

  CARL ZEISS CONTURA G2 XXT 扫描式探头三次元特点

三轴全包覆式:隔离加工现场灰尘、油污影响,可取代现场其他检治工具、小量具。 可在宽松环境:18~30oC环境可达2.9μm空间精度。不需专设量测室,即省环境设备费用。 三轴精密导轨传动设计,无需提供气源。 低耗能:仅需700W,即能省电;有效降低厂房负担。 Zeiss玻璃陶瓷光学尺精度0.2μm,超低膨胀;採高階机种【浮贴式】設計,不受机台膨胀影响。 Vast XXT 测头系统:固定式掃描测头设计,可单点及连续扫描量测。 自动探针更换架系统,标准3组,可扩充至9组;提供更便利量测。 .红外线温度感应,自动温度补偿。 C99控制箱系统,符合欧洲IP53规范,提供电压、溫度、气压、防撞保护。 量測行程500x500x500mm。