详细说明
主要特点:
▲ 测试频率20Hz-200KHz,精确度0.02%
▲ 基本量测准确度:0.1%
▲ 3种阻抗输出模式选择,测量结果可与各知名厂家之LCR表完全对比
▲ 增强式圈数比准确测量,适用于低磁导率的磁芯
▲ 高速LCR量测,最快80次/秒
▲ 高速DCR量测,最快50次/秒
▲ 大型LCD显示(320*240点矩阵)
▲ 提供各式标准测试冶具及特殊治具订制
▲ 四端测试冶具,可得到DCR,电感量和圈数比精确稳定的测量
▲ 4M SRAM记忆卡供机台资料设定及备份
▲ 标准RS-232,HANDLER及PRINER界面
▲ 50组内部仪器设定可供储存及呼叫
规格表
型 号 | 3250 |
主要功能 | 变压器扫描测试 |
测 试 参 数 |
变压器扫描测试 | 圈数比(Turn Ratio),相位(Phase),圈数(Turn),电感(L),品质因子(Q),漏电感(LK),平衡(Balance),交流电阻(ACR),电容(Cp),直流电阻(DCR),接脚短路(Pin Short) |
测 试 信 号 |
测试电压 | Turn | 10mV~10V,±10%,10mV/step |
其他 | 10mV~2V, ±10%,10mV/step |
测试频率 | Turn | 1KHz~200KHz,±0.02% |
其他 | 20KHz~200KHz,±0.02% |
输出阻抗 | Turn | 10Ω,当测试位准≤2V 50Ω,当测试位准>2V |
其他 | Constant=OFF:依电阻范围不同而定 Constant=320X: 100Ω ±0.5% Constant=107X: 25Ω ±0.5% Constant=106X: 50Ω 100mA±0.5%(1V设定) 电感负载小于10Ω,10Ω±10%,阻抗≥10Ω |
测 量 显 示 范 围 |
L,LK | 0.00001μH~9999.9H |
C | 0.00001pF~999.999mF |
Q,D | 0.00001~99999 |
Z,X,R | 0.00001Ω~99.9999MΩ |
Y | 0.01Ns~99.9999S |
θ | -90.00~+90.00 |
DCR | 0.01mΩ~99.9999MΩ |
Turn | 0.01~9999.99圈(次电压小于100Vrms) |
Pin Short | 11组,接脚与接脚之间 |
基 本 准 确 度 |
L,LK,C,Z,X,Y,R,DCR | 0.1% (若为AC参数1KHz) |
Q,D | 0.0005(1KHz) |
θ | 0.03°(1KHz) |
Turn | 0.5%(1KHz) |
测 量 速 度(最快速度) |
L,LK,C,Z,X,Y,R,Q,D,θ | 80 meas./sec. |
DCR | 50 meas./sec. |
Turn | 10 meas./sec. |
判 定 方 式 |
变压器扫描测试 | 各测试参数之良品/不良品判定由选购之处理器界面输出 |
显示器修正功能 | 320×240点矩阵LCD液晶显示器 开路(open)、短路(Short)归零,负载修正 |
记 忆 体 | 50组仪器设定,可藉由记忆卡扩充 |
等效电路模式 | 串联、并联 |
触 发 | 内部,手动,外部 |
一 般 规 格 |
环境条件 | 温度:10~40℃ 湿度:10%~90%RH |
消耗功率 | 最大140VA |
电 源 | 90V~125Vac或190~250Vac 48Hz~62Hz |
尺 寸(宽×高×深) | 430×180×320 |
重 量 | 约8.5Kg |