金镍膜厚测试仪集贵金属检测技术和经验与一身，以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、简宜的操作界面能满足贵金属成分检测的需要，人性化的设计，使测试工作更加轻松完成。测量贵金属使用高效且高精度的半导体接收器，满足贵金属的成分检测和镀层厚度测量的要求，且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计，仪器小巧,是一款桌面式的测量仪器。

　　金镍膜厚测试仪的优点

　　> 采用国际上最先进的、稳定性最好的射线源，体积小，使用寿命长，易维护。

　　> 设备结构简洁、操作简单、部件更换快速、简单，便于维护。

　　> 快速多点校正法技术保证了系统的长期精度。

　　> 快速、连续、非接触测量、实时显示高精度测量值。

　　> 操作站:提供中英文操作界面(Win2000)。采用web以太网平台，使用最新的JAVA 技术。

　　> 采用双放大技术和独特大电离室，提升测量范围及精度。

　　金镍膜厚测试仪应用领域:

　　1、分析电子部品电镀层的厚度

　　2、各类五金电镀件的镀层厚度管控分析

　　3、各镀层的成分比例分析