LED镀层测厚仪是一款可靠的采用X-射线荧光方法和独特的微聚焦X-射线光学方法来测量和分析微观结构镀层的测量系统,结合了测量镀层厚度及物料分析双功能在一整体的设计，此仪器是采用能量散射X-射线萤光测量原理，符合国际标准来进行非破坏及不接触的测量，除了可以测量镀层厚度外，还可以计算合金中各种元素的含量。

　　LED镀层测厚仪的特点:

　　★ X射线发生系统采用了聚光导管

　　由于采用了X射线聚光导管方式，可得到以往十倍以上的X射线强度，从而可以提高微小样品的膜厚测量及有害物质测量的精度。

　　★ 无需液氮的半导体检测器

　　在进行薄膜测量与有害物质的浓度测量时，高分辨率的检测器是必不可少的。SFT9500的检测器不但可以达到高分辨率，而且可以实现高计数率。同时，由于使用了电子冷却方式，所以无需液氮。

　　★ 能谱匹配软件

　　可瞬间识别未知样品与事先存档的X射线能谱库中哪一个样品较为接近的软件。对识别材料十分有效。

　　★ 块体检量线软件（适用于电镀液分析）

　　可简单地测量出电镀液中主要金属的浓度。

　　★ 绘图软件（选配件）

　　将元素面分析的结果进行等高线和色彩使用等视觉处理的软件。

　　★ 电镀液容器（选配件）

　　★ 各种标准物质（选配件）

　　LED镀层测厚仪主要应用方面:

　　由于可测量的元素范围从铝至铀，X射线的应用范围从工业应用伸展到科学应用。它可应用于治金学、地质学、鉴证学或自然科学等，在工业方面，广泛用于五金电镀、电子半导体、PCB线路、首饰珠宝、卫浴、汽配的成份分析和镀层测量方面。