X荧光膜厚测试仪是一部简单、容易操作，且经济实惠的测量仪器,大的测量室可以测量大体积、不规则形状的工件，DMC测量法能对测量距离修正，可以自动测量复杂的形状，大的线路板也可轻易的放在测量头及测量台之间的槽进行测量。

　　X荧光膜厚测试仪可变焦距控制功能和固定焦距控制功能:

　　计算机系统配置 戴尔计算机

　　分析应用软件 操作系统:Windows2000中文平台 分析软件包:SmartLink FP软件包

　　－测厚范围 可测定厚度范围:取决于您的具体应用。

　　－基本分析功能 采用基本参数法校正。根据您的应用提供必要的校正用标准样品。

　　样品种类:镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)

　　可检测元素范围:CL17 – U92

　　X荧光膜厚测试仪的特征

　　1.可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。

　　2.可通过CCD摄像机来观察及选择微小面积以进行镀层厚度的测量,避免直接接触或破坏被测物。

　　3.备有250个以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品