电镀膜厚仪采用了全新设计的发生器和DMC测量法光学编码定位系统，高科技的FP法计算，能对样品数据进行快速、精准的分析，基于当前最先进的电子技术全新设计的电路板，仪器小巧，结构紧凑，灵敏度高，性价比最好。她完全突破了X射线荧光仪早期技术和相应理论基础上多年形成的传统观念，以全新理念实现了样品分析自动化、操作简单化、检测分析智能化、数据结果最优化、体积小型化、功能最大化的一次成功尝试。

　　电镀膜厚仪采用的测量法特点有以下几种:

　　1、不需要先对样品进行处理便能测量。样品可以直接放入测量室进行测量，不需特别处理样品。

　　2、不需要复杂、昂贵的仪器来抽真空，便能在正常的环境下测量从元素Z＝13（铝）至U＝92（铀）

　　3、固体、浆状及液体的样本也可以测量。即使是极小不规则的测量面积也可快速，免接触的测量。

　　电镀膜厚仪能够有效并精确的测量合金属成分，只需短短数秒钟，所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量:单一镀层:Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。

　　二元合金层:例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。

　　三元合金层:例如Ni上的AuCdCu合金。

　　双镀层:例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。

　　双镀层，其中一个镀层为合金层:例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。