详细说明
镀层膜厚测试仪能够有效并精确的测量合金属成分,只需短短数秒钟,所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.
镀层膜厚测试仪采用了全新设计的发生器和DMC测量法光学编码定位系统,高科技的FP法计算,能对样品数据进行快速、精准的分析,基于当前最先进的电子技术全新设计的电路板,仪器小巧,结构紧凑,灵敏度高,性价比最好,完全突的破了X射线荧光仪早期技术和相应理论基础上多年形成的传统观念,以全新理念实现了样品分析自动化、操作简单化、检测分析智能化、数据结果最优化、体积小型化、功能最大化的一次成功尝试。
镀层膜厚测试仪典型的应用范围如下:
单一镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
三元合金层:例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
双镀层,其中一个镀层为合金层:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。
最多24种镀层(使用WinFTM? V.6软件)。
分析多达4种(或24种-使用V.6软件)元素。
分析电镀溶液中的金属离子浓度。
金东霖科技有限公司观迎您的来电.