无损电镀膜厚仪(X-RAY)是采用根据技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法设计的.其高解像的CCD彩色摄影机来监测测量位置,影像的摄影是与基本X-射线光束在相同的轴上,在对焦方便可作手动或自动对焦,对位的十字线是可以调校其刻度及测量点的大小,而且可以调节照明用的发光二极管的光亮度.

　　无损电镀膜厚仪(X-RAY)的特征

　　1.可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。

　　2.可通过CCD摄像机来观察及选择微小面积以进行镀层厚度的测量,避免直接接触或破坏被测物。

　　3.备有250个以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品

　　无损电镀膜厚仪(X-RAY)的应用范围 :1、分析电子部品电镀层的厚度

　　2、各类五金电镀件的镀层厚度管控分析

　　3、各镀层的成分比例分析。