XDLX-RAY是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

　　XDL一次可同时分析最多24个元素或五层以上镀层。

　　元素分析检出限可达2ppm，分析含量一般为2ppm到99.9％。

　　镀层厚度最薄可达0.005um，一般在20um内

　　小孔准直器（最小直径0.1mm），测试光斑在0.2mm以内。

　　高精度移动平台（定位精度小于0.005mm）。

　　任意多个可选择的分析和识别模型。

　　相互独立的基体效应校正模型。

　　多次测量重复性可达0.05um（对少于1um的最外层Au）。

　　长期工作稳定性为0.1um（对少于1um的最外层Au）。

　　温度适应范围为15℃至30℃。

　　电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。

　　适用于黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.

　　金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。

　　主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。