X荧光硅铝分析仪

　　性能特点

　　1 、微机化集成为一体，结构紧凑，外形美观。

　　2、大屏幕液晶显示，全中文菜单提示操作，使用极为方便。

　　3、分析时间短，1分钟即能测出SiO2%、Al2O3%。

　　4、仪器检测时不破坏样品，样品可重复使用。

　　5、不用任何化学试剂、无三废排放，不含放射源、低耗电，符合环保节能要求。

　　6、数据存储量大，含量结果、仪器自检数据都可查询，避免了打印耗材。

　　7、仪器执行GB/T19140《水泥X射线荧光分析通则》。

　　8、可与配料系统联网，实现自动控制。

　　主要技术指标

　　1、分析范围: SiO2、Al2O3 0.01%～100%  

　　2、分析精度:标准偏差SSiO2≤0.10%、SAl2O3≤0.08%

　　3、分析宽度: SiO2(Al2O3) max—SiO2(Al2O3)min≤5%,例如生料中SiO2:10%～15%，通过标定工作曲线选定。

　　4、分析时间: n*60秒（n为1～5自然数）。

　　5、使用条件: 供电AC200V～240V；环境温度0～40℃；相对湿度<85%（30℃）。

　　6、整机功耗: <30W  

　　7、整机尺寸:468mm*368mm*136mm  

　　8、整机重量:13.8kg