硬件独特性:双屏显示设计，造型时尚专业，带多节点预启动装置和实时监控系统；已集成工业级计算机，无需再外接电脑，计算机采用触屏设计，操作流畅便捷；加装自动防辐射泄漏装置，主动性的保证使用人员安全。超高的分辨率可轻松解决贵金属行业无损分析的任何复杂要求，为贵金属行业性价比最好的顶级光谱仪。

　　软件优越性:XRF6.0菜单式软件，带硬件参数调整和数据评估及计算系统；软件除能显示金属百分比纯度外，亦可显示黄金K值；软件可自动重复检测，自动测算多次检测的均值；计算报告的打印格式多样化，完全满足客户的各种形式的打印要求。

　　激发源:Mo靶的X光管风冷 (无辐射）

　　样品室: 长227 mm×宽: 188mm×高: 35～75 mm样品放大成像系统

　　探测器:Si-PIN 探测器

　　其它规格:

　　电压:交流220V/50Hz

　　最大功率:144W

　　最大处尺寸:605mm*432mm*284mm

　　重量:35kg

　　技术指标:

　　分析范围:0.001%～99.999%

　　测量时间:自适应

　　测量精度: ± 0.001%--0.1%

　　分辨率:120-170eV at Mn K-aipha

　　测试环境:常温常态

　　分析元素:除贵金属常含元素和铱、锇等铂族重金属能全面测试外，该型号还能对从AL至U的70多种元素进行分析，实为贵金属行业常量分析中的实验室级光谱仪。

　　X射线源:X射线光管

　　高压器:4～80Kv

　　分析:多通道模拟

　　操作系统:Windows2000/Me/XP

　　镀层测量:

　　镀层厚度范围<30μm

　　最大测量层数:5层

　　测量精度:0.03μm