产品简介

　　X射线荧光测厚仪可用于测量一般工件、PCB及半导体产品的各镀层厚度全自动XYZ样品台，雷射自动对焦、自动对位；温度补偿；有竞争力的价格；五个准直器（0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05x0.3mm）

　　XRF-2000 X射线测厚仪镀层测厚仪测金机膜厚仪

　　X-射线镀层测厚仪的特征:

　　1.可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。

　　2.可通过CCD摄像机来观察及选择微小面积以进行镀层厚度的测量，避免直接接触或破坏被测物。

　　3.备有250个以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品。

　　韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列X射线测厚仪（全新原装进口）

　　XRF2000能提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越，而且价钱超值，同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟，便能非破坏性地得到准确的测量结果，甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大／开放式的样品台，可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的首选。可测量各类金属层、合金层厚度等。

　　可测元素范围:钛（Ti）–铀（U）原子序 22–92.

　　准直器:固定种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm

　　自动种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm

　　电脑系统:DELL品牌电脑，17寸液晶显示器，惠普彩色打印机

　　综合性能:镀层分析定性分析定量分析镀液分析统计功能