15J测量显微镜

　　利用直角坐标系进行细微零件的孔径、基面距离、刻线宽度、键槽宽度、狭缝宽度、通孔圆外径，利用圆点坐标系进行角度、刻度盘、样板；量规、钻孔、模板、刀具磨制及几何形状复杂的零件角度测量；作为普通显微镜观察工件表面光洁度、矿石标本、照相制版、纺织纤维。

　　15J测量显微镜

　　1、目镜放大倍数:10X

　　2、物镜放大倍数:2.5X/0.08，10X/0.25

　　3、显微镜放大倍数:25X、100X

　　4、工作距离（mm）:58.84、7.81，视场直径(mm):5.6、1.4

　　5、测量工作台读数装置主要规格

　　X—轴移动测量范围 50mm ；Y—轴移动测量范围 13mm

　　测微器分度值:0.01mm，测量台转动范围:不限；测量台刻度盘游标读数示值: 6’

　　6、测量精度:仪器示值误差±（5+L/15）微米

　　仪器示值误差:包括测量误差与仪器系统误差.

　　注:测量地点温度变化（20±3）℃； L—被测件长度（mm）

　　7、仪器之主要尺寸:测量台与物镜间之最大距离: 80mm ; 测量工作台直径: 120mm15J测量显微镜

　　注:具体参数请和我们保持联系，还有相关配套之产品,