XRF2000測厚儀測量功能

　　MicroPioneerXRF-2000系列荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱超值.只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的首选.可测量各类金属层、合金层厚度.

　　可测元素范围:

　　钛（Ti）–铀（U）

　　可测量厚度范围:

　　原子序22-25，0.1-0.8μm

　　26-40，0.05-35μm

　　43-52，0.1-100μm

　　72-82，0.05-5μm

　　X-射线管:油冷,超微细对焦

　　高压:0-50KV（程控）

　　准直器:

　　固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm

　　自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

　　电脑系统:IBM相容,17”显示器

　　综合性能:镀层分析定性分析定量分析镀液分析

　　镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层,合金镀层.

　　镀液分析:可分析镀液的主成份浓度（如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等）,简单的核对方式,无需购买标准药液.

　　定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.

　　光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.

　　统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.