一、仪器介绍

　　日立FT110镀层测厚仪，使用高效而实用的正比计数盒探测器，以强大的稳定性能，满足更为大件的样品和精细镀层厚度测量的要求，且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计，使仪器操作更人性化、更方便。

　　二、性能特点

　　专业镀层厚度检测。

　　内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍以上。

　　智能检测软件，与仪器硬件相得益彰。

　　任意多个可选择的分析和识别模型。

　　拥有广域图像，可更加直观的观察整个样品

　　三、技术指标

　　可元素分析范围:从钛(Ti)到铀(U)。

　　可测量对象:微小样品与大型样品都可。

　　分析含量一般为:1ppm到99.9％。

　　多次测量重复性可达:0.1％。

　　长期工作稳定性为:0.1％。

　　可分析4层镀层+1层底材层

　　可重复测量，扫描模式，线性测量，梯度测量。

　　聚焦高度:10mm-40mm-80mm(3秒内可自动聚焦)

　　可测样品尺寸:250*200*150mm

　　中心搜索功能,自动修正X射线的偏差.

　　四、标准配置

　　开槽式样品腔。

　　激光定位装置。

　　正比计数盒探测器。

　　信号检测电子电路。

　　高低压电源。

　　X光管。

　　准直器圆形和矩形.

　　五、应用领域

　　镀层的厚度测量和镀层含量的测定。

　　主要用于电镀行业,贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售.

　　黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。